光的干涉1.10[光学程]范长江.pptVIP

* §1-10 干涉现象的应用 牛顿环 一、检查光学元件表面的质量 将待查光学元件置于几何形状完善、曲率半径相同且已知的标准样板上，观测所形成的干涉条纹，再与标准花样比较，若相同，则待测元件质量合格，否则，根据条纹畸变情况，判断出待测元件缺陷。 例： 平面元件： 待测平面 标准平板 薄垫片 球面元件： 待测球面 标准凹板 a b 二、增透膜与增反膜 1、增透膜： ①定义：减少元件表面反射能量，增加透射光能量，提高成像 质量的镀膜。 ②原理：利用薄膜干涉原理，使薄膜上、下两表面的两束反射 光形成干涉相消，从而减少反射，增加透射。 注意：应选择合适的透明介质（折射率）和适当的镀膜厚度。 A C a1 a2 C’ d0 n1 n2 n3 i1 i2 B 要全消除反射,要求两列波的振幅相等； 增透膜:光在空气(n=1)和玻璃( )分界面上的反射光强是入射光强的5%；透射光强为95%。在许多光学仪器中反射光是十分有害的，例如对照相机，有6个透镜12个反射面，投射光强为(0.95)12?0.55，再比如潜水艇的潜望镜有20个透镜，投射光强为(0.95)40?0.13，反射光在界面上的多次反射，大大降低了成象质量。因此需要增透（减反）膜。 nf ng n=1 目前还找不到折射率为1.23的介质。现在的做法是使用折射率为1.38的MgF2，人对光的敏感波长为550nm， 此时： 问题：为什么没有计半波损？ 2、增反膜： ①定义：减少透射光能量，增加元件表面反射能量，提高成像 质量的镀膜。 ②原理：利用薄膜干涉原理，使薄膜上、下两表面的两束反 射光形成干涉相长，从而减少透射，增加反射。 注意：应选择合适的透明介质（折射率）和适当的镀膜厚度。 要求： 增反膜： 蒸镀一定厚度的膜，使膜的两个分界面上的反射光相长相干，提高反射光强要达到较高的反射率，需要采用多层膜，比如MgF2和ZnS交替的多层膜。 图中反射膜为7层。若镀13层，反射光的百分比可达99% 例题1-6： 增透、增反膜 已知：照相机镜头n3=1.5，其上涂一层 n2=1.38的氟 化镁增透膜，用波长 光垂直照射。 问：若反射光相消干涉的条件中取j=1，膜的厚度为多少？此增透膜在 可见光范围内有没有增反？ 解：因为 ，反射光干涉相消的条件是： 代入j 和 n2 求得： 此膜对反射光相干相长的条件： 结果 可见光波长范围 400~700nm 波长412.5nm的可见光有增反。 三、测量长度的微小变化： 原理：当薄膜厚度发生微小改变时，干涉条纹将发生移动。设 当厚度改变Δd0时，有N个条纹移过，则 例：热胀仪—测热胀系数 熔融水晶环，热胀系数极小 垂直入射光 待测样品 光学平面薄玻片，其上观察条纹 加热 空气劈尖 四、测量极细丝的直径(设光垂直入射） α ΔD A dj+1 dj Δd Δl B O 例、在半导体元件生产中，为测定硅（Si）片上 SiO2 薄膜的厚度，将该膜一端削成劈尖状，已知 SiO2 折射率 n=1.46 ，用波长为 546.1nm 的绿光垂直照射，观测到 SiO2 劈尖薄膜上出现7条暗纹图，问 SiO2 薄膜厚度是多少（Si的折射率为3.42）？ 解：劈尖处是明纹，薄膜厚： Si 3.45 SiO2 1.46 五、牛顿环： 1、结构：曲率半径较大的平凸透镜M置于平板玻璃N之上，其间形成空气劈尖。干涉花样为以O为圆心的一组同心圆环。 2、原理： 由几何关系有： ∵R＞＞d ∴ 略去二阶小量 得： 又：反射光有半波损失(光垂直入射) 代入干涉公式 3、干涉花样特点 C、中心为暗。 D、白光照射时，中央暗，旁边彩色。 A、内环级次低，外环级次高；条纹内疏外密。 B、透射光也有干涉，且条纹与反射光条纹明暗互补。 例题1-7 已知：用紫光照射，借助于低倍测量 显微镜测得由中心往外数第 j 级明环 的半径 , j 级往上数 第16 个明环半径 ， 平凸透镜的曲率半径R=2.50m 求：紫光的波长？ 解：根据明环半径公式： 以其高精度显示 光测量的优越性 作业：P67 15、16 例题1-8 欲测一工件表面的不平度，用一平晶放在待测工件上，使其间形成空气劈，如图2-3(a)所示。以波长为 欲测一工件表面的不平度，用一平晶放在待测工件上，使其间