光纤链路的现场质量检测方法_BT.docVIP

光纤链路的现场质量检测方法 福禄克公司 尹岗 【摘要】本文所描述的现场质量检测是指对光纤的现场参数进行检测，以便确定其是否符合质量标准的要求。现场测试不同于实验室测试，一般使用手持式测试仪，测试内容也相对简单一些，主要的测试内容一是衰减/损耗测试，二是OTDR曲线测试。在北美的TSB140标准中，还特意将这两种现场测试方法定义为一级测试和二级测试。一级测试(Tier 1)就是测试链路衰减值(选测：长度和极性)；二级测试(Tier 2)则是在一级测试的基础上增加OTDR曲线测试(Tier2 = Tier1 + OTDR测试)，以便根据OTDR曲线判定链路中有无引起性能下降的事件----这些“事件”可以是较差的连接器、熔接点、过度的弯曲、捆扎过紧、光纤气泡、应力裂纹等等问题。 在低速链路中(比如100Base-SX)，只要一级测试合格，光纤性能问题一般不会引起链路误码率上升或者出现明显的故障现象。但在高速链路中，性能下降最常见的表现就是高速链路的误码率增加(比如10G Base-S)，严重时甚至无法实现高速连接。 光纤衰减值现场测试(一级测试 Tier 1) 衰减值是光纤链路现场测试的最基本参数，光纤本身因为散射、吸收、弯曲过度和熔接等均可能造成光能量的衰耗，光纤的机械连接也会直接导致光信号能量的衰减。测试衰减值的方法很简单，它被称作OLTS法(Optical Loss Test Sets)。就是用光源先向光功率计发送光能量，光功率计记录收到的初始能量(P0)，然后移开光功率计，将被测光链路“嵌入“到光源和光功率计之中，光源从一端向被测光纤中发送光能量，光功率计在另一端接收通过光纤后的光能量(Pi)，如果光能量是以分贝(dB)为单位的，那么这两个光能量的差值就是被测光纤链路的衰减值(P0 - Pi)。 【问题】光源如何向光功率计注入初始光能量P0？ 光源的信号出口当然不能直接向光功率计注入光能量。光源一般使用一根质量较好的测试跳线(TRC，通常2米左右长度)向光功率计注入光功率，测试跳线TRC与光源输出光功率的耦合效率也是设计光源时需要重点考虑的一个问题。多模62.5um的光纤一般使用同样规格的测试跳线来“短接”到光功率计，多模50um的光纤则使用50um的测试跳线来进行“短接”，不鼓励将50/62.5um的光纤测试跳线混用，因为这需要特殊的连接方法才能保证测试的准确性。用测试跳线短接光源和光功率计后，光功率计上收到的光能量就是初始功率P0。由于存在耦合损失和测试跳线本身带来的衰减，所以光源实际输出的光功率肯定是大于光功率计收到的初始光功率P0的。 【问题】被测光链路如何才能“嵌入”到光源和光功率计之间？ 被测光链路的两端有可能是插座，也有可能是插头，还有可能一端是插座一端是插头，因此不同的链路测试的接入方法也不同。如果两端是插座，则可以将光源和光功率计上的测试跳线TRC直接插入被测链路的两端插座上即可；如果两端是插头，则需要在两端用耦合器来连接测试跳线TRC。TRC是测试参考跳线(Test Reference Cord)缩写。如果被测链路的一端是插座另一端是插头，则只需在被测链路的一端使用耦合器即可。 【问题】被测光纤的插座或者插头与测试跳线TRC的插头型号不一致怎么办？比如测试跳线是SC，而被测链路的插座是小型插座LC。 三个办法：一是使用转接测试跳线，这种测试跳线的一端是SC，另一端是LC。对于两端都是插座的链路，这种方法比较合适；另一个办法就是使用转接耦合器，这种耦合器两面的插座是不同的，一面可以插入SC测试插头，另一面可以插入LC测试插头。对于两端都是插头的链路，这种方法比较合适。还可以使用一种一端是SC插头，另一端是LC插座的测试跳线。 【问题】我是第三方检测评估机构，是否有必要预先准备好各种测试跳线？ 如果测试的对象多种多样的(经常如此)，那么，是的。 【问题】为什么工程测试要求一定要使用测试跳线？ 测试工具的端口插拔次数过多会因磨损偏差使得光功率计获取的初始功率P0发生漂移，这将严重影响测试的精度。经常性地更换测试插座费用及成本很高，还会影响使用。所以工程测试要求一定使用测试跳线(TRC)，在光功率计获得初始功率P0后就不再拔下插在光源上的测试跳线。这样，执行测试时就只插拔和磨损测试跳线未接光源的另一端，磨损到一定程度后即可自行更换测试跳线，而测试跳线的更换成本远远低于测试插座的更换成本(100:1以上)。 【问题】什么光功率计在获得初始功率P0后通常要将此值设为相对“0”功率值？ 光功率计在获取P0后一般会有一个选择按钮或操作菜单，它将提示操作者可以将此P0值设置为相对“0”功率值。按下此按钮后光功率计就会把此时的光功率值强行认为是“0”功率值。此时若不去掉短接跳线，再次按下测试键，光功率计将显示接收的光信号功率