机器视觉的经典案例.docVIP

机器视觉的经典案例 机器视觉经典案例此主题相关图片如下，点击图片看大图：创科视觉应用典型案例1定位引导(LocateGuide)(技术支持)所谓定位就是找到被测的零件并确定其位置，输出位置坐标，绝大多数的视觉系统都必须完成这个工作；引导就更容易理解了，当被测物体的坐标被准确定位之后，常常需要根据前一步确定的位置来完成下一个动作(比如机器手进行抓取、激光进行切割和焊接头进行焊接等)。很明显，这是视觉行业里被最密集使用的技术，定位的精度、速度和重复度就是各个视觉系统相互攀比的指标，由深圳创科自动化控制技术有限公司推出的视觉开发工具CKVision在这方面有着当仁不让的优势，该平台在激光行业(切割)、半导体行业(Die bonder、COG、Wire bonder、Flip-chip Bonder、元件封装)和电子行业等有着诸多成功的应用，最近又开拓了制卡行业焊线引导的新客户。以下列举几种典型的案例。典型案例之激光商标切割系统(详情致电)检测任务：根据输入的CAD文档自动识别商标，并准确定位其位置，然后引导激光头进行切割，并能对被切割材料变形实时跟踪以确保切割准确无误。检测要求：工作面积：500x350 mm激光功率：40~70W切割速度：0~40,000mm/min定位精度：0.01mm CCD摄像头分辨率：320-800万像素总功率：1250W检测说明：本系统主要任务是根据CAD(或者其它电子文档)输入的商标图形，用软件在视野内自动寻找与输入图形相同的图案，然后定位并输出商标中心点的坐标，然后根据这些坐标指引切割装置进行切割。由于检测对象是很软的材料，变形(拉伸和缩小)是在所难免的，这就要求软件能输出实测图像相对于模板图像的比例系数并进行实时补偿。该领域最新的进展是沿商标图案的实测边缘进行切割，可获得更高切割精度。CKVision软件提供了实现该功能的函数。该系统是由客户自主开发，采用黑白高清晰度CCD系统，经过客户多方比较，由于CKVision的定位和检测速度非常快，定位精度非常高。 典型案例之COG对准引导系统(详情致电)检测任务：精确定位微小Mark点，根据Mark点的位置将IC与玻璃正确对位并贴附。检测对象：该系统主要用于电子行业的IC和LCD上的Mark点精确定位定位精度：0.005mm定位要求：自动定位并显示对位误差系统说明：所谓COG(Chip On Glass)技术，指的是运用一种包含金属颗粒的粘性膜(异方向性导电膜ACF)，通过预压将IC芯片邦定在LCD玻璃板上，使IC与LCD玻璃板之间的线路连通。正如上面谈到的一样，IC芯片面积小，但I/O端数量多。要想使IC与LCD玻璃板之间的线路很好的连通，就需要对IC和LCD进行非常精确的定位，保证足够的定位精度。而IC和LCD上微小的Mark点使得通过人眼定位变的困难重重，而且人眼的易疲劳和主观性对这种高精度的对位带来严重隐患，因此采用视觉对位系统。由深圳市创科自动化控制技术有限公司开发的COG视觉对位控制系统，硬件方面选用了高性能的图像采集卡、高亮度稳定的LED光源，保证整个系统的长期稳定性，镜头选用百万像素的高倍镜头，保证足够的放大率，进而确保最后的精度。软件运用CKVision视觉开发包，以及其功能独特的几何图像定位技术FindModel。该系统误差可以控制在0.005mm，其重复精度可以达到1/10Pixcel，在COG精确对位方面取得理想的效果。典型案例之固晶机(Die Bonder)拾片引导系统检测内容：将晶片(Die)从晶圆(Wafer)上自动取放到料带上，并准确放置。检测要求：通过视觉定位和引导，将晶片从晶圆(Wafer)上自动取放到基板上；速度：50ms/pcs。系统说明：晶圆上的单个晶片面积非常小(约0.078平方毫米)，数量极多，且位置不固定，因此对传统装片机的电机走位精度、工作稳定性和速度提出了非常高要求。传统装片机存在以下几个重要弊病：*走位不准：因为晶片切割及晶圆贴膜等原因很容易造成晶片在晶圆上位置分布不均。*晶片浪费：晶片在晶圆上呈圆形分布，采用传感器定位边界的方法势必会造成边界定位不准而致使一些晶片拾取不到，从而在晶圆上残留一些晶片。*操作较为麻烦：由于机器以固定步距及方向行走，所以晶圆与电机的水平一致性要求非常高，极小的角度偏差都会导致累加误差过大，这就要求操作员在每次换料时耐心的将晶圆与电机位置调到最佳，而且每次开始时都需要操作员手工进行晶片对位。因为边界定位采用传感器，机器需要操作员不断手工调节边界传感器位置，较为繁琐。*效率较低：由制作工艺本身造成的晶圆上存在相当数量的坏料或空料，传统的光电传感器识别准确度不高，导致后期成品合格率下降，影响生产效率。深圳创科公司开发的固晶机视觉系统采用图像识别技术进行实时定位、分析及导航，有效