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基于CPLD和单片机等精度数字频率计设计
基于CPLD和单片机等精度数字频率计设计
摘 要: 根据相位重合点理论对等精度数字频率计进行改进,采用该理论可使对标准频率信号和待测频率的计数同时开始,消除了对标准频率信号计数时±1个周期的误差。系统设计主要包括三部分:待测频率的整形放大部分;计数部分,采用CPLD,相位重合点的检测也在CPLD中完成;频率的计算和显示部分由单片机AT89C51完成。CPLD部分的仿真使用Max+Plus Ⅱ,单片机部分的仿真使用Protues软件。测试结果表明,待测频率在1 Hz~10 MHz范围内,频率计测量精度高,稳定性好。
关键词: 相位重合点理论; CPLD; 等精度数字频率计; Max+Plus Ⅱ
中图分类号: TN710?34; TM935.13 文献标识码: A 文章编号: 1004?373X(2015)10?0118?03
频率计是一种应用在电子、通信、工业生产领域的常用的电子测量仪器。常用的对频率计的设计方法有直接测量法,模拟内插法,多周期同步法,等精度测量法[1?2]等。在这些测量方法中等精度测量法的精度最高,但是该方法对标准频率信号的计数部分存在±1个周期的误差,本文采用相位重合点理论,可消除±1个周期的误差。
1 系统整体设计方案
由于待测频率fx往往是小信号,并且不是方波,所以要先放大和整形,经过处理后的信号和标准频率信号f0送到CPLD,单片机对CPLD发控制命令,CPLD进行相位检测和计数,计得的两组数值(在实际闸门时间内对fx的计数值nx和对f0的计数值n0)送往8051,单片机根据公式[fxnx=f0n0]计算出fx,最后通过液晶显示器LM0 16L 显示出当前频率值。整体设计方案如图1所示。
图1 系统框图
2 系统设计
2.1 放大整形电路的设计
放大部分采用共射极放大电路,整形部分采用施密特触发器74LS14。由于共射极放大电路是反向放大,而施密特触发器内部就带有反向器,所以最终可实现放大整形后不会反向。
2.2 相位重合检测部分
2.2.1 传统等精度频率计测频原理
传统的等精度频率[3?4]计测量原理[5]如图2所示。标准频率信号f0送入计数器counter0的时钟端CLK,待测频率fx连D触发器的时钟端和counterx的时钟端CLK,D触发器的输入端接闸门信号,输出端接两个计数器的使能端。当闸门信号在高电平器期间,并且fx是上升沿时,两个计数器同时计数,停止计数时刻是在闸门信号变为低电平后并且是fx的下一个时钟信号上升沿到来时结束计数。这种方法可以保证对fx的计数不存在任何误差,但是对f0的计数则有±1个误差,并且对于f0的给定,必定是个高频信号,比如100 MHz,而采用本文的方法对f0则无要求。
图2 传统等精度频率计结构图
2.2.2 相位重合理论
设[f1=A×f],[f2=B×f],A,B是相互没有公约数的两个正整数,则f就是f1和f2的最大公因子频率fmaxc。设[tminc=1fmaxc],tminc叫作最小公倍数周期。在一个tminc周期中f1和f2中的相位差中有一些值分别等于初始相位差加0,ΔT,2ΔT,3ΔT,…,ΔT=[fmaxcf1f2],这些值远小于f1和f2的周期值,这样的一些点叫做两信号的“相位重合点”。所谓相位重合并非绝对重合,而是一个相对的概念。在一个tminc周期中包含A个频率值是f1的周期和B个频率值是f2的周期。
利用上述理论,可得到相位重合点检测电路[6?9],如图3所示。
图3 相位重合检测电路
2.2.3 修正后的相位重合检测电路
该电路理论可以找到相位重合点,是利用信号经过非门之后有延时,但是仿真不通过,这是由于仿真软件把原信号和取反后再相与逻辑综合掉了,所以经过非门之后的信号必须要有个延时才可以,同理加入逻辑门的方法进行延时也行不通,比如再增加2个非门的方法。在Max+Plus Ⅱ软件中有延时单元LCELL可以用,但是延时不精确,甚至可能造成系统不稳定。由于Max+Plus Ⅱ中没有电容电阻这些元件,所以也不能用RC电路进行延时。本文采用延时的方法是通过加入D触发器来延时,信号经过D触发器的延时时间为1个CP脉冲的时间,电路图如图4所示。
图4 修正后的相位重合点检测电路
从波形图图5可以看出,a信号与b信号的初始相位差为0,b信号的周期是a信号的3倍,根据相位重合点理论,可以得到在每一个300 ns后必然有相位重合点。当chonghe端是一个窄脉冲的上升沿时说明b信号和a信号相位重合。由于信号经过非门有几个ns的延时,并且经过D触发器后还有1个CP脉冲的延时,所以观测到的相位重合
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