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基于ARM便携式晶体管参数测量平台研制 　　摘 要:介绍一种晶体管参数测量平台的方案,给出硬件组成和软件流程。使用ARM处理器及WinCE系统作为软硬件基础,以S3C2410为核心控制电路,利用12位D/A模块TLV5618产生稳定的控制电压、10位A/D模块TLC1543完成电压测量。将晶体管参数测量平台与单片机及传统示波器测量平台做了比较,其测量精度高于示波器,并且在对数据的分析处理能力及速度上ARM优于单片机,结果表明该系统性能可靠、速度快、精度高且便携。 　　关键词:晶体管参数测量平台;S3C2410;Windows CE.NET;ARM处理器 　　中图分类号:TN307文献标识码:A 　　文章编号:1004-373X(2010)06-040-03 　　 　　Research on ARM-based Portable Platform for Transistor Parameter Measurement 　　YUAN Qiuchen,YAO Yiwu,DONG Limin 　　(School of Electronic Information Control Engineering,Beijing University of Technology,Beijing,100124,China) 　　Abstract:The program of transistor parameter measurement platform is introduced,the hardware components and software process are given.Using ARM processor and WinCE system as the basic hardware and software,S3C2410 as the core control circuit,using 12 bit D/A module TLV5618 produce a stable control voltage,10 bit A / D voltage measurement module TLC1543 complete voltage measurement.Transistor parameter measurement platform and the traditional single chip platform,oscilloscope measurements platform are compared,the measurement platform is more accurate than the oscilloscope platform,and ARM is better than single chip microcomputer in data processing.Results show that the system is reliable,fast speed,high accuracy and portability. 　　Keywords:transistor parameter measurement platform;S3C2410;Windows CE.NET;ARM processor 　　 　　0 引 言 　　 　　传统的测量系统如示波器、晶体管特性图示仪、频率特性测量仪等,尽管能够实现信号参数的可靠测量,但亦存在价格昂贵、体积大,操作复杂等缺点。本文探讨了基于ARM[1]的高速、高精度、便携式智能测量平台的研究,实现了基于S3C2410的晶体管参数测量平台的研制,可以实现小功率晶体管基本参数测量,并为绘制特性曲线提供了可行方案。 　　 　　1 系统硬件设计 　　 　　整个测量平台具备以下几个部分:被测单元、采样电路、数控部分(S3C2410 ARM系统、A/D转换、D/A转换)、电源模块、键盘显示单元、数据存储器以及PC上位机软件平台。系统结构见图1。 　　1.1 数控部分 　　数控部分是以S3C2410为核心的SBC2410V6主控板,采用六层板设计,性能稳定,拥有64 MB FLASH,嵌入WinCE系统,与PC进行ActiveSync同步连接,可烧写安装用户开发的应用程序。功能模块见图2。 　　图1 晶体管参数测量平台模块组成 　　图2 SBC2410V6主控板的功能模块图 　　S3C2410处理器采用203 MHz的ARM920T内核[2],集成了16 KB指令缓存和16 KB数据缓存,并利用MMU实现对虚拟内存的管理,LCD控制器支持STN屏或FTT屏,支持NAND FLASH;在工作温度、抗电磁干扰、可靠性等方面