AECQ100 G 中文版.DOCVIP

本文由ziliao972贡献 pdf文档可能在WAP端浏览体验不佳。建议您优先选择TXT，或下载源文件到本机查看。 基于集成电路应力测试认 证的失效机理 内容列表 AEC-Q100 基于集成电路应力测试认证的失效机理 附录 1:认证家族的定义 附录 2:Q100 设计,架构及认证的证明 附录 3:邦线测试的塑封开启 附录 4:认证计划和结果的最低要求 附录 5:决定电磁兼容测试的零件设计标准 附录 6:决定软误差测试的零件设计标准 附件 AEC-Q100-001 邦线切应力测试 AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性,数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-010 锡球剪切测试 AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 227 感谢 任何涉及到复杂技术的文件都来自于各个方面的经验和技能, 为此汽车电子 委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重要贡献的人: 固定会员: 准会员: 327 特邀会员: 其他支持者: 427 注意事项 AEC 文件中的材料都是经过了 AEC 技术委员会所准备,评估和批准的. AEC 文件是为了服务于汽车电子工业,无论其标准是用在国内还是国际上, 都可排除器件制造商和采购商之间各方面的不一致性, 推动产品的提高和可交换 性, 还能帮助采购商在最小的时间耽搁内选择和获得来自那些非 AEC 成员的合适 的产品. AEC 文件并不关注其采纳的内容是否涉及到专利,文章,材料或工艺.AEC 没有认为对专利拥有者承担责任,也没有认为要对任何采用 AEC 文件者承担义 务. 汽车电子系统制造商的观点主要是 AEC 文件里的信息能为产品的说明和应用 提供一种很完美的方法.如果没有在本文件见到所陈述的要求,就不能声称与本 文件具有一致性. 与 AEC 文件相关内容的疑问,评论和建议请登陆链接 AEC 技术委员会网站: 本文件由汽车电子委员会出版. 尽管 AEC 拥有版权,但本文件可以免费下载.由于该下载方式,个人须同意 不会对该文件索价和转售. 享有著作权.本文件可以根 据著作权注意事项进行再次出版印刷.不经过 AEC 元器件技术委员会批准,本文 件禁止任何更改. 527 基于封装集成电路应力测试认证的失效机理 下列下划线部分标示了与上版文件的增加内容和区别, 几个图表也作了相应 修正,但这几处的更改并没有加下划线强调. 1. 范围 本文件包括了一系列应力测试失效机理, 最低应力测试认证要求的 定义及集成电路认证的参考测试条件. 这些测试能够模拟跌落半导体器 件和封装失效,目的是能够相对于一般条件加速跌落失效.这组测试应 该是有区别的使用,每个认证方案应检查以下: a,任何潜在新的和独特的失效机理 b,任何应用中无显现但测试或条件可能会导致失效的情况 c,任何相反地会降低加速失效的极端条件和应用 使用本文件并不是要解除 IC 供应商对自己内部认证项目的责任 性,其中的使用者被定义为所有按照规格书使用其认证器件的客户,客 户有责任去证实确认所有的认证数据与本文件相一致. 供应商对由其规 格书里所陈述的器件温度等级的使用是非常值得提倡的. 1.1 目的 此规格的目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及 被认为能够提供某种级别的品质和可靠性. 1.2 参考文件 目前参考文件的修订将随认证计划协议的日期而受到影响,后续 认证计划将会自动采用这些参考文件的更新修订版. 1.2.1 汽车级 AEC-Q001 零件平均测试指导原则 AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则 AEC-Q003 芯片产品的电性表现特性化的指导原则 AEC-Q004 零缺陷指导原则 SAE J1752/3 集成电路辐射测量程序 627 1.2.2 军用级 MIL-STD-883 微电子测试方式和程序 1.2.3 工业级 JEDEC JESD-22 EIA/JESD78 UL-STD-94 IPC/JEDEC J-STD-020