集成芯片测试系统usrtlhfo.doc

序 言 随着数字技术的飞速发展，各种集成电路在电路中被大量使用[1]。数字集成电路是指采用一定的生产工艺，将晶体管、电阻、电容等元件及其连线制作在同一块半导体基片上，并封装于一个管壳内所构成的单元。随着新工艺、新技术的不断发展和对数字电路应用要求的不断提高，在短短的几十年时间，数字集成电路从小规模、中规模、大规模发展到超大规模、巨大规模，经历了一个不断完善的过程。 对一用户来讲，一旦选用某型号集成电路芯片后，那么其逻辑功能正确与否成为关键，另外有些芯片铭牌被涂改，也可以通过逻辑功能来判断其型号。集成电路测试系统作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。近十年来，数字集成电路的应用已十分广泛，其产品渗透到生产、生活的各个领域，正在形成一场数字技术革命[2]。现在市场上虽然有一些集成电路的测试仪器，但是价格都很高，本课题设计这个系统就是针对简单组合电路完成的测试。 近年来随着科技的飞速发展，单片机的应用正在不断地走向深入，同时带动传统的控制检测技术日新月异的更新，在实时检测和自动控制的单片机应用系统中，单片机往往是作为一个核心部件来使用，但仅有单片机方面知识是不够的，还应根据具体硬件结构，以及针对具体应用对象特点的软件结合，加以完善，达到最理想的效果。所以用单片机来测试集成电路，两者相结合则是一个很好的方法[3]。 本次设计是基于单片机技术以及数字电路相结合的一个应用[4]。利用所需测试芯片的一些相关的引脚功能，通过单片机软件对芯片真值表进行相关处理，得到标准的数据显示。然后利用数码管静态显示，从而得到最简单的显示电路。在此基础上再加入相应的控制功能：通过设定芯片的正确真值表实现指示灯的显示（好的绿灯表示，坏的则用红灯以及报警）。此外还有按键扫描电路和测试电路。 文章结构如下：第1章介绍了组合逻辑电路测试的设计方案以及总体的设计思路和框图，第2章介绍了硬件电路的各个模块，第3章介绍了软件的流程及设计软件，第4章介绍了软、硬件的调试及总体的调试方法。 第1章 设计方案的确定以及系统的总体设计 1.1设计方案的确定 此设计是将单片机技术和数字电路相结合，因此在单片机上加外围电路来实现其测试功能[4]。首先硬件电路的设计上为了追求简单方便，在显示电路中利用芯片164采用串扩并的接法，静态显示，并且采用六位的数码管电路，来显示所测芯片的型号，这样更直观。在按键设定电路中，采用了独立扫描方法。单片机采用功能强大价格低的AT89C52，它支持快写操作，方便调试与维护。在控制部分采用继电器输出，满足一般的工作条件。其次，为了使结果能更好的表现出来，所以在系统的设计上加了指示电路（报警灯装置）。这样就完善了整个系统的设计。 1.2设计前的准备 1.2.1 设计简述 1、数字逻辑电路按逻辑功能分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。其中组合电路的设计是根据逻辑功能的要求，设计出实现该功能的最优逻辑电路[5]。从采用的的器件来看，可以分为用小规模集成电路、中规模集成电路和大规模集成电路。本次设计采用的是基本逻辑门电路：74LS138（3—8线译码器、复工器）、74LS151（8选1数据选择器）、74LS85（四位数字比较器）、74LS160（可预置BCD异步清除计数器）、74LS86（两输入异或门）、74LS90（BCD同步加、减计数器）。其具体介绍在第二章的芯片介绍中。 2、单片机应用系统设计包含有硬件设计与软件设计两部分，设计内容有： 系统扩展。通过系统扩展，构成一个完善的计算机系统，它是单片机应用系统中的核心部分。系统的扩展方法、内容、规模与所选用的单片机系列，以及供应状态有关，不同系列的单片机，内部结构、外部总线特征均不相同。 通道与接口设计。由于这些通道大都是通过I/O口进行配置的，与单片机本身联系不甚紧密，故大多数接口电路都能方便地移植到其它类型的单片机应用系统中去。 系统抗干扰设计[6]，抗干扰设计要贯穿在应用系统设计的全过程。从总体方案、器件选择到电路系统设计；从硬件系统设计到软件程序设计；从印刷电路板到仪器化系统布线等，都要把抗干扰设计列为一项重要工作。 应用软件设计。应用软件设计是根据指令系统及系统功能要求进行的，因此，指令系统功能好坏对应用系统软件设计影响很大。目前各种单片机指令系统各不相同，极大地阻碍了单片机技术的交流与发展。 3、通过了解这些芯片的性能，把其真值表列入程序中。通过单片机给出其输入信号，然后再用单片机读出其输出信号。 1．2．2 开发语言及编译器介绍 1、汇编语言和C语言[7] 目前在开发51单片机系统时，使用的最多的开发语言是汇编语言和C语言，这两种语言都有良好的编译器支持，有为数总