NWINGFPC技术交流研习会表资料.ppt

測試機測試規格 測試規格與測試品質之關係 線路有低阻值，不等於線路有缺口 線寬3mil線路，導通性不良時，阻值會超過10Ω 線路愈細愈長， 產生阻值愈高 壓合層次愈高， 產生阻值愈高 孔徑（盲埋孔）愈小， 產生阻值愈高 測試點開關（IO）基本組成 導通性測試流程圖（continuity） 導通性測試流程圖（continuity） IO點損壞就會發生誤測 IO點損壞更會發生漏測 絕緣性測試流程圖（insulation） 絕緣性測試流程圖（insulation） IO點損壞就會發生誤測 IO點損壞更會發生漏測 隨著新產品(P59系列)的不斷開發,相應線 路越細、點數越來越多、電氣原件越來越多. 現有的電測機已存在著誤判的隱患,出現點數 不夠的尷尬,IC無法測試的難堪.電測系統 的完善已是迫在眉捷.多功能的電測機準系統 導入勢在必行. * 第18屆NWING-FPC技術交流研習會表資料 發表單位:自動化 前言 電測是檢驗產品電氣特性之唯一方法,也是保證產品最終品質最有效的手段.故對電測原理的探討與實施,有助於更多的人了解電測,了解保障產品品質的重要途徑. 目錄 空板電測(Bare Board Tester) 成品電測(Cable Tester) ICT電測(In Circuit Tester) 空板成品電測 Bare Board Tester and Cable Tester 空板電測 成品電測 測試規格 絕緣性20MΩ測試 導通性10 Ω測試 是客戶的要求 更是大勢所趨 測試機以定電壓測試 先測導通性 再測絕緣性 導通性測試：測試電壓10V、電流20mA 測試條件：10 Ω～100K Ω 絕緣性測試：測試電壓50V ～250V、電流20mA 測試條件：100KΩ～20MΩ 0Ω PASS 10Ω ∞Ω FAIL 導通性測試規格越趨近0 Ω，測試品質越嚴格 絕緣性測試規格越趨近∞Ω，測試品質越嚴格 PASS FAIL 導通性測試 絕緣性測試 20ΜΩ 線路為什麼有低阻值??? 電阻R＝ 截面積A 長度L 電 測 原 理 測試機有誤測就會有漏測 只是誤測的板子可以自己找 漏測的板子客戶幫你找 A 治具探針 電表 IO IO IN OUT 治具探針 ON OFF PASS A ON ON 1 2 3 4 OPEN A ON ON 1 2 3 4 PASS A ON OFF 1 2 3 4 OPEN IO損壞(常關) 誤測 A ON ON 1 2 3 4 PASS IO損壞(常開) ON 嚴重漏測 A ON ON 1 2 3 4 PASS ON ON A ON ON 1 2 3 4 SHORT ON ON A ON ON 1 2 3 4 SHORT ON ON ON IO損壞(常開) 誤 測 A OFF ON 1 2 3 4 PASS ON ON IO損壞(常關) 嚴重漏測 超智慧軟體,支援多片排片測試及導電膠測試(ACRT) 排片測試又稱為排版測試,其主要的用途是讓 作業人員在測試完畢后能以最快的速度判定 多片版中某片為不良品. 空板電測機優點(一) 監測系統,提高測試可靠度. 所謂監測系統就是防呆裝置: 當防呆為ON時,測試完畢為良品者,必須從設 定的方向安放否則機臺不再繼續測試的動作 .此項設計是為了防止長時間的工作所造成的 疲勞,而導致誤動作的發生.將良品與不良品混 在一起. 空板電測機優點(二) ICT電測 (In Circuit Tester) ICT概論: ICT即在線測試儀(IN CIRCUIT TEST)是一大堆高級電表的組合.電表能測到,ICT就能測到,電表測不到,ICT也可能測不到. 如:R//Jumper, R無法用電表測,ICT也無法測. 測試原理的探討 一般而言,基本上測試方法有兩大方向,一則利用電流源當信號源,量測電壓值,以應用在電阻量測最普遍;二則以電壓源當信號源,量測電流值,以應用在電容、電感量測最普遍 隔離效果原理的探討 ICT與電表的差異就是:ICT可對旁路元件進行隔離(Guarding),而電表不可以. 在TR-518FR的內部電路中,是利用一顆OP當做一個隔離點(最多可有五個隔離點),若是:以電流源當信號源輸入時,則在相接元件一之另一腳加上一等高電位能(Guarding Point),以防止電流流放與被測元件相接之旁路元件,確保量測的精確性. 開路短路量測原理探討(一) 在開路短路自我學習(openshort learning)時,系統會自動將量測點之間阻抗 小于25Ω的點聚