电子器件参数仪器的分类1半导体分立器件测量仪器.PPTVIP

3）面板说明 XJ4810型半导体晶体管特性图示仪的面板如图5-33所示。主要可划分为七部分： （5）显示部分 （6）阶梯信号部分 （7）测试台部分 4）使用方法 （1）开启电源，指示灯亮，预热10min。 （2）调节“辉度”、“聚焦”、“辅助聚焦”旋钮，使屏幕上的光点或线条明亮、清晰。 （3）灵敏度校准。 4）使用方法 （4）阶梯调零。当测试中用到阶梯信号时，必须先进行阶梯调零，其目的是使阶梯信号的起始级在零电位的位置。 （5）根据被测器件的性质和测试要求，调节图示仪上各部分的开关、旋钮到合适位置，然后插上被测器件，进行测试。 （6）仪器复位。测试结束后应使仪器复位，防止下一次使用时不慎造成被测晶体管损坏。 5）使用注意事项 （1）为保证测试的顺利进行，测试前应根据被测器件的参数规范及测试条件，预设一些关键开关和旋钮的位置。否则如调节不当，极易造成被测器件受损或测试结果差异很大。 5）使用注意事项 （2） “峰值电压范围”、“峰值电压%”、阶梯信号“电压-电流/级”及“功耗限制电阻”这几个开关、旋钮使用时应特别注意，如使用不当很容易损坏被测器件。 （3）测试大功率器件（因通常测试时不能满足其散热条件）及测试器件极限参数时，多采用“单簇”阶梯，以防止损坏器件及仪器本身。 知识梳理与总理 1. 半导体器件特性的测量一般采用图示法，测量时使用的仪器为晶体管特性图示仪。 2. 集总参数元件的测量主要采用电桥法和谐振法。依据电桥法制成的测量仪器总称为电桥，同时具有测量L、R、C功能的电桥称为万用电桥；依据谐振法制成的测量仪器称为Q表。 知识梳理与总理 3. 万用电桥由桥体、测量信号源、指零电路组成。桥体一般用四臂电桥，每个桥臂由阻抗组成，测量对象不同时桥体有相应的不同组成形式。 4. Q表由信号源、耦合电路、谐振电路及Q值电子电压表组成。测量元件采用直接测量法和替代法，而替代法又因被测阻抗大小不同而分别采用串联替代法和并联替代法。 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 (3)线圈电感量的测量： 首先估计被测线圈的电感值，在“、对照表”上找出对应的频率，再调节“波段开关”及“频率旋钮”至这个频率值。 1）使用方法 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 (4)电容量的测量： 根据被测电容容量的大小，其测量方法有以下两种。 a. 小于460pF电容的测量。从仪器附件中取一只电感量大于1mH的标准电感接于“ ” 接线柱上，将“微调”调至零，主调电容度盘调至最大（500pF），记作 ；然后调节“定位零位校直”和“Q值零位校直”，使“定位”电压表及Q表指示为零。 1）使用方法 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 (4)电容量的测量： 根据被测电容容量的大小，其测量方法有以下两种。 b. 大于460pF电容的测量。可以采用前述的串联替代法来测量。 1）使用方法 5、典型仪器介绍—— QBG-3型Q表的使用 (5)电容损耗因数的测量： 首先将主调电容度盘调至500pF，记作。将大于1mH的标准电感（附件）接于“ ”接线柱上，调节“波段开关”及“频率旋钮”，使Q表指示最大，设此时Q表读数为 ；然后将被测电容并接于“ ”接线柱上，调小主调电容度盘至某值，记作 1）使用方法 5.2 电子器件特性及参数测量仪器 电子器件特性及 参数测试 晶体管特性 曲线的测量 晶体管 图示法 典型仪器 XJ4810型晶体管 特性图示仪 半导体分立器件测量 模拟集成电路测量 数字集成电路测量 器件分类 描点法 图示法 组 成 工作原理 工作原理 面板说明 使用方法 仪器应用 测量方法 主要技术指标 知识分布网络 1、电子器件参数仪器的分类 1）半导体分立器件测量仪器 半导体分立器件有二极管、双极型晶体管、场效晶体管、闸流晶体管（晶闸管）和光电子器件等种类。通常一种仪器只能测量几类器件的部分参数。根据所测参数的类型，半导体分立器件测量仪器大致可分为下列四种。 1、电子器件参数仪器的分类 1）半导体分立器件测量仪器 （1）直流参数测量仪器 （2）交流参数测量仪器 （3）极限参数测量仪器 （4）晶体管特性图示仪 1、电子器件参数仪器的分类 2）数字集成电路测试仪器 数字集成电路主要有TTL和CMOS集成电路等。对其测试的内容主要有直流测试、交流测试和功能测试三部分。 1、电子器件参数仪器的分类 3）模拟集成电路测试仪 模拟集成电路包括运算放大器、稳压器、比较器及专用模拟集成电路等。模拟集成电路的测试有直流测试和交流测试。