纳米材料 14.pptVIP

* 最常用的表征技术可以分为三类：计数法、集成法和分离法 计数法： 扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）,虽精准但样品制备过程耗时繁琐；含水或者其他溶剂的样品可以用环境扫描电子显微镜（ESEM）或者环境透射电子显微镜（ETEM）。只能表征导体和半导体。 原子力显微镜（AFM）：较经济，节省空间，可以探测各种类型的纳米颗粒的表面。 纳米颗粒跟踪分析技术(NTA) ：一种可以同时利用光散射和布朗运动得到液体中的纳米颗粒的粒径分布的超显微技术，灵敏度较高。 集成法： 动态光散射粒度仪（DLS）：也可以参考光子相关谱法（PCS）和准弹性激光衍射 （QELS），较适用于粒径分布比较窄的样品，测得的结果很容易因灰尘或者颗粒聚集而改变，在测量的过程中要密切关注样品的分散稳定性。测量结果偏大。 X射线衍射（XRD）：一种分析晶体结构和化学组成的非破坏性的技术，有半峰宽和衍射角可以利用谢乐公式计算得晶粒尺寸。 小角X射线散射（SAXS）：散射角取决于入射光波长和颗粒尺寸，可表征液体或者固体。 分离法： 离心沉降粒度分析(CPS)：利用沉积时间和粒径之间的关系计算。高效液相色谱(HPLC)、流体动力学色谱（HDC）、分子排阻色谱（SEC）：沉降和不可逆的吸附会影响测试结果，可加入表面活性剂来避免，但表面活性剂会影响分辨率。场流分离（FFF）：可分离可溶性的和胶体组分。毛细管电泳（CE）