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下一代开放式架构测试解决的方案 　　摘要：近来随着IC市场的多样化发展趋势，对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切，同样如何降低测试成本也是至关重要。为了适应相应的需求，解决面对的问题，爱德万测试公司（ADVANTEST）推出了下一代开放式架构测试解决方案?D?DT2000 SoC测试系统。 　　关键字：开放式架构，T2000，模块 　　 　　一、 SoC测试中面临的问题 　　 　　 目前，半导体工艺朝着一大一小的两级化发展。一方面，12英寸的大尺寸晶圆在生产中得到广泛应用；另一方面，90nm、65nm的精细化加工也得到了普遍发展。同时，SoC单颗芯片内逻辑、存储、模拟等功能线路的集成度也在不断增加，被广泛应用在电脑，通信系统，网络系统，消费类产品等各个领域内。然后，特种用途芯片的市场需求也在不断增加。另外，SoC芯片本身就具有多品种，小批量，市场周期短的特点，芯片价格也会在较短的市场周期内快速下降。 　　芯片设计公司及量产厂家，测试公司都是测试设备供应厂商的客户。从客户的角度来看，随着SoC芯片的多样化，复杂化，在测试方面，产生了以下问题： 　　1. 测试设备频繁的更新换代，造成了新测试设备购买带来的成本增加 　　 2. 任何一家测试设备供应商的测试设备都无法满足各种测试要求 　　 3. 针对不同种类的芯片，需要准备多种测试设备，造成日常运行成本的增加 　　 以上这些问题最终导致综合测试成本的增加。 　　 另外，从测试设备供应商自身的角度来看，又存在以下问题： 　　 1. 随着芯片的发展，需要不断开发新型高性能测试设备，造成测试设备开发成本的大幅增加 　　 2. 由于测试设备复杂程度的加大，造成研究开发周期的大幅延长 　　 3. 测试设备供应商面对自己公司的多种类测试设备，也存在日常维护、保证工作复杂化的问题 　　 所以，面对这些问题，我们该如何应对，成为近年来业界中大家共同关心的话题。 　　 　　二、 OPENSTAR概要 　　 　　 以各种单体测试模块（Module）为基础的开放式架构测试系统将解决前面提到的问题。测试设备的标准化，使得各测试业界各供应商都可以参与开发，可以互换共通使用的模块和软件。 　　 　　图1 OPENSTAR开放式架构 　　 　　 基于OPENSTAR开放式架构，有以下几点好处： 　　 1. 可以减轻由于模块种类或数量不足所带来的风险 　　 2. 由于多家参与开发制造，市场竞争的因素也使低价格化成为可能 　　 3. 测试设备的标准化，使日常运营成本及技术人员的培训成本降低 　　 4. 测试设备整体及模块功能扩展和功能变更升级的自由度非常高 　　 5. 降低了测试设备不必要的更新换代带来的投资成本 　　 6. 可以实现测试设备架构的最优化 　　 只要满足OPENSTAR的规格要求，那么，任何Vendor的模块和软件等都可使用。OPENSTAR规格是由STC倡导并运营的。STC的全称是半导体测试协会（Semiconductor Test Consortium），以提高半导体测试效率为目标，共同推进测试平台、测试程序语言、以及测试技术标准化的国际化组织团体。 　　 在全球范围内已有50多家公司和40多所大学加入了STC组织，成为了这个大家庭中的一员。中国的清华大学，日本的东京大学等世界知名高校也名列其中。 　　 　　三、 开放式架构SoC测试系统概要 　　 　　 对于开放式架构测试系统，其基本概念如下： 　　 首先，具备测试设备规格的可扩展性及所搭载模块的自由扩展性。根据测试的要求选择所需要的模块，有多种对应的主机（Main Frame）可供选择，满足STC规格的各类模块都可以应用在各种主机中。 　　 其次，测试设备本身性能的可扩展性及模块性能的可扩展性，可以使性能和成本达到最优化的配置。考虑到并行测试效率及成本性能的优化组合，测试设备控制部分有三种的控制器构成可供选择。 　　 另外，对应不同SoC芯片的测试要求，有种类丰富的模块可供选用。并且，开放式架构测试系统还具备有满足客户实际需求，可供灵活使用的开放式软件环境。 　　 最后，开放式架构测试系统还具备有基于各种最新技术的功能架构。例如，1Gbps 系统总线，高速设定的测试条件存储器，也有多时域功能部件等等。 　　 　　图2 开放式架构测试系统基本概念图 　　 　　 图2是基于OPENSTAR规格的T2000开放式架构测试系统的基本概念图。根据测试的必要性，选择需要的控制器数目，从而决定主机的尺寸。根据必要的模块数，决定选择测试头。最后根据测试的要求，选择相应的模块。这时，我们就完成了所需的1台测试设备的构造。 　　开放式架构的测试设备是由加载