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特性阻抗测量课程
Tektronix Validation and Debugg Center
泰克验证与调试中心
邓锦辉
June 2003
课程内容简介
8第一部: TDR时域反射测量阻抗原理概述
8第二部: 传输线理论概述
8第三部: TDR阻抗测量的分辩率与误差
8第四部: 使用IPC-TM-650标准去除阻抗测量的误差
8第五部: 典型TDR应用
8PCB特性阻抗测量:单端, 差分, 齐模与偶模阻抗, 串扰
8Cable特性阻抗测量:特性阻抗, 传输延迟,串扰, 回波损耗, 衰减
8系统信号完整性分析:例子:利用TDR测试千兆高速背板眼图
8IC封装的错误分析
8第六部: 泰克阻抗测量产品介绍
8第七部: 静电的成因, 影响与适当的防静电措施
880A02静电保护模块介绍
第一部: TDR原理概述
TDR时域反射的原理
8TDR = Time Domain Reflectometry 时域反射
8原理:当传输路径中发生阻抗变化, 部分能量会被反射, 剩余
的能量会继续传输。只要知道发射波的幅度及测量反射波的
幅度,就可以计算阻抗的变化。同时只要测量由发射到反射
波再到达发射点的时间差就可以计算阻抗变化的位置。
阻抗变化点
Z1 = Z0 Z2 Z0
入射能量 传输能量
被反射能量
TDR仪器的实现方法
8典型TDR系统由一高速的阶跃脉冲发生器与高速的取样头所
组成。阶跃脉冲的上升时间决定了分辨阻抗不连续性的能力
。高速采样头决定测量时间,即阻抗变化位置之准确度。
50 Ω
传输线
Z
Load
阶梯 Load
SMA接头
Z
0
信号源 0
去示波器 取样-保持
主机 门电路
注意:一般的TDR仪器的输出阻抗为50Ω
TDR 取样头
计算阻抗变化
V Z − Z
公式: Rho (ρ ) = reflected = 0 请参看本课程第二部
有关此公式的推导
V Z + Z
incident 0
1+ ρ
Z = Z
0
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