1课件(第1章 绪论)-.ppt

1.1.5 数字电路测试的可测性及完备性 2.完备性 定义：如果一个测试集能测试出系统中的每一个故障，则这个测试集是一个完备 测试集（complete test set），而含有最少测试矢量的完备集称为最小完备 测试集（minimal complete test set）。 如果一个数字电路有 n 个输入端，则真值表有 2n 行，每一行作为一个测试矢量，共有 2n 个测试矢量，即完备测试集为 2n 个。 仍以与门为例 全部可能故障有如下6个： a1 ---x1 s-a-0 a2 ---x1 s-a-1 a3 ---x2 s-a-0 a4 ---x2 s-a-1 a5 ---y s-a-0 a6 ---y s-a-1 x1 x2 y 1.1.5 数字电路测试的可测性及完备性 用真值表法列出无故障真值表及各种故障表如下： 无故障真值表 故障表 测试可侦查的故障 a1 a2 a3 a4 a5 a6 —————————————————————————————————————————— 测试 x1 x2 y y y y y y y ____________________________________________________________________________________ T1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 a6 T2 0 1 0 0 1 0 0 0 1 a2 , a6 T3 1 0 0 0 0 0 1 0 1 a4 , a6 T4 1 1 1 0 1 0 1 0 1 a1 , a3 , a5 —————————————————————————————————————————— 完备测试集： T={T1 ，T2 ，T3 ，T4 } 且有测试： T={（00，01，10，11）；（0，0，0，1）} 无故障测试 T={（00，01，10，11）；（0，0，0，0）} a1 , a3 ,a5 故障测试 T={（00，01，10，11）；（0，1，0，1）} a2 故障测试 T={（00，01，10，11）；（0，0，1，1）} a4 故障测试 上述完备测试集可以测试全部故障，测试长度为4。分析可以看出T1 测试是冗余的 。 1.1.5 数字电路测试的可测性及完备性 所以，最小完备测试集为： T={T2 ，T3 ，T4）} 且有测试： T={（01，10，11）；（0，0，1）} 无故障测试 T={（01，10，11）；（0，0，0）} a1 , a3 ,a5 故障测试 T={（01，10，11）；（1，0，1）} a2 故障测试 T={（01，10，11）；（0，1，1）} a4 故障测试 T={（01，10，11）；（1，1，1）} a6 故障测试 最小完备测试集测试长度 n=3 ，节省25%的测试量，随着n的增加，节约量愈大。 结论：数字电路测试的最终目标是寻求适当的最小完备测试集！最小完备测试集不是唯一的。 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 数字电路测试方法的发展 第1.2 节 穷举测试法 1.2.1 基本思想 在n维布尔空间，如果对任何测试矢量均满足下关系： f*(x)=f(x) 即实际输出响应恒等于无故障输出，则被测电路就是无故障电路。因此，穷举测试就是用未经简化的完备测试集的测试。测试长度n=2n 。 优点： 测试质量高，d=1； 数学模型简单，只需一个n维测试矢量发生器，输出2n个测试矢量即可。 缺点：测试长度太长，计算费时。且随n的增加按指数增加。 例：n=180 则测试长度为 2n = 2180 = 1054 如用计算机辅助测试，测试速率为10Msa/s=107个测试矢量/秒 则需时： 1054 /107 = 1047 秒=3x1039年！！