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第3章 时序电路测试算法 电路与系统自动化测试、诊断、预测与可测性设计 研究方向： 第3章 时序电路测试算法 第3.1节 基本概念 时序逻辑电路的特点--时间迭代与空间迭代 时序逻辑电路测试的基本原理 第3.2节 迭接电路法 基本概念-----时间迭代变为空间迭代 同步时序电路的空间迭代 异步时序电路的空间迭代 第3.3节 状态变迁检查法 初始状态的设置--复原序列与引导序列 状态的识别--区分序列 故障测试 区分序列的存在性 电子科大CAT室 第3.1节 基本概念 时序电路又称为时序系统，时序机器，有限状态机，有限自动机等； 时序逻辑电路的特点：输出不仅与当前输入有关，而且与输入序列前面的状态有关； 时序电路的一般模型： 组合电路 时序电路 存储器或延迟线 组合电路 C 内部状态 S=S1,S2,…,SJ 输入 输出 X=x1,x2,…xn Z=z1,z2,…zm Y激励矢量--改变内部状态 Y=Y1,Y2,…Ys y状态矢量 y=y1,y2,…yp 时钟cp 复位信号R 电子科大CAT室 时序电路工作特性的描述--状态转换 状态表 方法 功能描述. （逻辑图是结构描述） 状态图 例：有一时序电路：状态S（S1，S2，S3），输入X（x1,x2,x3），输出Z（Z1，Z2） 其工作特性可用状态表和状态图描述如下： 第3.1节 基本概念 输入x 现 态S 下态/ 输出 x1 x2 x3 S1 S2 S3 S2/Z2 S1/Z2 S3/Z1 S2/Z1 S1/Z1 S1/Z1 S1/Z2 S2/Z2 S2/Z1 S1 S2 S3 x1/Z2 x3/Z1 x2/Z1 x3/Z1 x1/Z1+ x2/Z2 测试的基础 电子科大CAT室 x2/Z2 x1/Z1+x3/Z2 测试的基本步骤： 建立被测电路的初始状态； 当电路稳定时，加入测试矢量； 观察电路稳定时的输出响应； 重复上述步骤，直到故障在输出端出现为止。 测试方法： 结构性测试--迭接电路法； 功能性测试--状态变迁检查法。 第3.1节 基本概念 电子科大CAT室 第3.2节 迭接电路法 基本思想： 时序电路的时间迭代 组合电路的空间迭代 组合电路测试方法 迭接方法： 每一个状态等效一个组合电路，迭代次数 状态数，否则无解； 迭代模型： C(0) C(1) C(m) S0 S1 输入 x(0) y(0) 初始状态矢量 输出Z(0) y(0) 激励矢量 y(1) 状态矢量 输入x(1) 输入x(m) 输出Z(1) y(1) 激励矢量 y(2) 状态矢量 y(m) 状态矢量 输出Z(m) ……….. 电子科大CAT室 第3.2节 迭接电路法 同步时序迭代的通路敏化法 方法：一面迭代，一面敏化，直到将故障算子敏化到输出端为止。 例：如图有两个D触发器的时序电路 输入：x 状态：y1y2 (00,01,10,11) 状态矢量：y1,y2 激励函数： 输出矢量： 求：F-s-a-1的测试 X F s-a-1 x x CP 复位R Y1 Y2 电子科大CAT室 第3.2节 迭接电路法 解： 初始化：加复位脉冲R y={y1(0)=0,y2(0)=0} 迭接敏化过程： C(0) C(1) C(2) C(3) S S S y1(0)=0 y2(0)=0 X(0)=1 Z(0)=1 X(2)=1 X(1)=1 Z(2)=D 结束 Z(1)=1 Y1(0) y2(1) Y1(2) y1(2) Y1(1) y1(1) Y2(0) Y2(2) Y2(1) y2(2) t0时段 t2时段 t1时段 电子科大CAT室 0 0 第3.2节 迭接电路法 迭代过程描述： t0时段：y1(0)=0, y2(0)=0--对F s-a-1形成 算子； 按敏化要求：对与门有 x(0)=1 激励函数为： t1时段：y1(1)=0, y2(1)= 按敏化要求：对与门有 x(1)=1 激励函数为： 电子科大CAT室 第3.2节 迭接电路法 t2时段：y1(2)= , y2(2)= 按敏化要求：对与门有 x(2)=1 激励函数为： 所以，测试为： T={R，X}={111；110}----无F-s-a-1故障测试； T={R，X}={111；111}----F s-a-1故障测试； 如果， 电子科大CAT室 第3.3节 状态变迁检查法 1.基本思想 利用时序逻辑的状态图或状态表，检查在一定条件下是否进入规定状态，并输出正确的信息。从而得出电路的测试。 2.基本方法