电路与电子系统故障诊断讲稿.doc

《电路与电子系统故障诊断》讲稿 授课教师：马敏  课程安排 学时：32学时，2学时/周； 纪律：不旷课，不迟到，不早退，上课不讲话； 要求：上课认真听讲，作好笔记，下载讲义； 思维方法：跳跃思维，反向思维； 平时成绩（作业，纪律），旷课一次扣2分：20%，期终考试80%； 教材：陈光禹著，《数字系统测试及仪器》第三版，电子科大出版社 陈光禹著，《可测性设计技术》，电子工业出版社 Samual c.lee,Digital circuits and logic design; R.saeks,S.R.liberty,Rational fault analysis;(列出1180篇文献） 第1章 概述 第1.1节 数字系统测试的基本概念 什么是数字系统测试； 数字系统测试的重要性及复杂性 数字系统测试的分析方法 数字系统测试的基本任务及方法 数字系统测试的可测性和完备性 第1.2节 穷举测试法--数字系统测试的简单方法 穷举测试法的基本思想及特点 伪穷举测试法的具体实施 第1.3节 故障表方法--数字系统测试的基本方法 故障表方法的基本思想 故障表方法的具体实施--固定计划法，自适应方法 第1.1节 数字系统测试的基本概念 1.1.1 数字系统测试的定义--什么是数字系统测试？ 电子系统：模拟系统--处理模拟信息； 时域测试：f(p,t) 频域测试：s(p,w) 相互转换关系---富氏变换： 1.1.1 数字系统测试的定义 数字系统--处理数字信息，即二进制信息： f(Event,Word)=f(E,W) 电子世界正在兴起一场深刻的革命，这场革命以大规模集成电路和微处理器系统为标志。近来又发展了超大规模集成电路(VLSI)，使许多传统的测试理论、方法和技术正在为之改观。在现代测试技术中相应地开拓出一个新的测试领域，即数字系统测试。 时域测试和频域测试分析是电路和系统的传统分析和测试方法，对于模拟电路和系统是久经考验而行之有效的，但对于复杂的数字电路和系统却未必能奏效，甚至会完全无能为力。这是因为数字电路和系统所处理的信息是用离散的二进制信息来表示的。这种二进制信息常用高电平表示“1”，而用低电平表示“0”，多个二进制位(BIT)的组合就构成一个数据。因此，在现代的数字电路和系统中对其“数据”信息的测试技术就称之为数字系统测试分析技术。 随着数字集成电路和计算机技术的日益普及和发展，在现代先进装备中几乎都是带有微处理器或微计算机的数字系统，系统愈来愈庞大复杂。然而，其维护和检修问题日益严重，特别是在一些实时控制的联机应用中，诸如航天、航空的飞行控制，武器系统的管理和控制，化学过程和核反应堆的管理和控制，等等。其中所用的数字系统和计算机的任何故障或失误，都会导致奇灾大祸。数字系统测试的研究内容就是研究数字系统和计算机系统的测试及故障诊断的理论和方法。 数字信息的特征： 严格的时空观--严格的时序和严格的空间（多线）概念； 非周期性--难以观察与测试； 无规律性--难以模拟； 不稳定性--竞争与冒险，毛刺难以测试； 软件信息与硬件信息难以区分--数据流测试； 速率范围大--ps--s量级，难以存储和记忆； 因此，用常规的模拟测试技术是无法实现数字信息的测试。 1.1.1 数字系统测试的定义 数字系统测试的定义： 数字系统（电路）是处理二进制信息的系统，二进制信息常常称之为“数据”，因此，有关数字系统的信息测试和分析就称为“数字系统测试”，也称为“数字系统的故障诊断”。 本课程的内容： 数字系统测试理论和方法，是全新的测试理论和方法。 1.1.2 数字系统测试的重要性和复杂性 数字系统是复杂的系统：计算机系统，自动测试系统，智能仪器等； 电子世界正在兴起一场深刻的革命，这场革命以大规模集成电路(VLSI)和微处理器标志的数字系统，使许多传统的测试理论、方法和技术正为之改观。 重要性： VLSI及数字系统生产过程的质量控制 保证数字系统高的可靠性 必须： 设计和生产时：系统有高的无故障概率，即高的成品率，或高的故障诊出率； 运行时：快速的故障诊断能力，使系统正常运行； 如果一个系统共有n种故障模式，为分析简便起见，假设n种故障模式的出现是等概率的，并设为p，即不出现故障的概率为(1-p)，则整个系统的无故障概率或成品率为： 定义测试质量d为单个故障的侦出率，即通过测试而被侦查出来的概率。则经测试侦查出故障，并排除故障后系统的无故障概率或成品率变为： 即经测试并排除故障之后，系统的无故障概率由原来的提高到。如果，一个系统原来 的无故障概率=0.85，测试质量d=0.98，根据公式有： 也就是经过测试并排除故障