反馈式振荡器相位噪声的理论分析及优化技术研究-检测技术与自动化装置专业论文.docx

独 创 性 声 明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工 作及取得的研究成果。据我所知，除了文中特别加以标注和致谢的地 方外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果，也不包含 为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。 与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明 确的说明并表示谢意。 作者签名： 日期： 年 月 日 论 文 使 用 授 权 本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定，有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁 盘，允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文 的全部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或 扫描等复制手段保存、汇编学位论文。 （保密的学位论文在解密后应遵守此规定） 作者签名： 导师签名： 日期： 年 月 日 摘 要 振荡器，包括声体波（BAW）和声表面波（SAW）振荡器，由于其在高频/ 甚高频/特高频（HF/VHF/UHF）频段具有方便获取的高品质因数的特性，是天文、 物理、航空航天、雷达、测试、测量和通信系统等研究领域中最为常用的基础元 件之一。随着现代电子信息技术水平的不断提高，振荡器作为各种频率源的参考 源和产生时间频率基准的关键器件，其相位噪声越来越成为限制各种电路与系统 性能的一个关键因素。因此，研究和分析降低相位噪声的途径对振荡器的设计和 应用都具有十分重要的意义。 在振荡器的相位噪声模型之中，最为直观、使用最为方便的是 Leeson 的相位 噪声模型。但是经典的 Leeson 模型缺乏对相位噪声影响最大的有载品质因数与振 荡电路参数之间定量的研究和分析。本文正是在 Leeson 模型的基础上，揭示了振 荡器中谐振器的等效电路参数和振荡电路参数对有载品质因数值的决定关系，提 出了不同振荡电路类型下的有载品质因数的显性表示式。进而在提高有载品质因 数值的基础上，定量分析和评估了多种材料、多种工艺和多种振荡电路的声体波 和声表面波振荡器的相位噪声。本文主要工作和创新点包括： 1．目前振荡器的设计缺少物理角度的方法简单而精确的优化振荡电路，为了 解决这一问题，本文提出了一种简单而有效的可针对皮尔斯和巴特勒振荡电路的 相位噪声分析方法。 2．分析了振荡器的各种相位噪声模型，从振荡器 Leeson 模型的基础上揭示了 振荡器中谐振器的等效电路参数和振荡电路参数对有载品质因数的影响，进而通 过对双口网络理论的分析，提出了在不同振荡器电路类型下的有载品质因数的显 性表示式，弥补了 Leeson 模型缺乏有载品质因数与振荡电路参数之间定量关系的 不足。 3．从振荡器频谱纯度的角度结合实际的皮尔斯和巴特勒振荡电路，根据本文 提出的物理基础上的有载品质因数表示式，详细研究了谐振器等效电路参数和振 荡电路参数对有载品质因数的共同影响；在此基础上分别针对 120MHz AT 切和 SC 切皮尔斯晶体振荡器、315MHz 巴特勒声表面波压控振荡器以及钽酸锂晶体压控振 荡器几种不同材料、不同工艺、不同电路类型的振荡器，对比研究了相位噪声的 优化技术，提出了一种基于提高有载品质因数的振荡器设计方法。大量的实验事 I 实证明，本文提出的从提高有载品质因数的角度出发降低相位噪声的方法能够有 效的改善振荡器的相位噪声特性，对振荡器设计具有指导意义，同时为低相位噪 声振荡器及其谐振器的深入研究提供了量化的分析方法和科学依据。 4．深入研究了振荡器的温度补偿和隔振方法，并分别设计了一种新型的 AT 切低相位噪声集成温度补偿晶体振荡器和一种石英晶体振荡器的双层被动隔振系 统，以求振荡器达到更好的频率稳定度和相位噪声水平；精确推导了串电容后晶 体谐振器等效电路参数的公式，得到的结果与使用了高频、高品质因数或高电容 比等假设下的结果一致，故只要等效电路相同，此公式同样适用于低品质因数、 低电容比器件，甚至适用于实际的电感电容网络，此推导结果扩展了谐振器等效 电路参数公式的应用范围；另外，研究了声体波谐振器中的能陷问题，从理论结 合实验的方法给出了石英晶体振荡器的能陷现象与相位噪声的关系，这对在低相 位噪声声体波振荡器中的谐振器设计具有指导作用。 关键词：相位噪声，有载品质因数，晶体振荡器，声表面波压控振荡器，钽酸锂 压控振荡器 II ABSTRACT Oscillators including bulk acoustic wave (BAW) and surface acoustic wave (SAW) oscillators are the most basic components widely used in astronomy, physics, aerospace, radar, test and