第六节课仪器误差分析.ppt

当仪器各个随机源误差相互独立时 合成后的仪器总随机误差可写成 t为置信系数，一般认为合成总随机误差服从正态分布，即当置信概率为99.7%时，t=2；置信概率为95%时， t=3 。 2.极限误差法 若已知各单项误差源的极限误差 （如公差范围），根据各随机误差源的概率发布即 ，其中 为对应随机误差的置信系数，那么可以用各单项误差的极限误差来合成总随机误差的不确定度： 若各单项随机误差相互独立 二、系统误差的综合 1.已定系统误差的合成 设仪器中有 r个已定系统性源误差 ，已定系统误差其数值大小和方向已知，采用代数和法合成，则仪器总已定系统误差为： 如果是原理误差，则 。 2.未定系统误差的合成 未定系统误差是其大小和方向或变化规律未被确切掌握，而只能估计出不致超出某一极限范围的系统误差。由于未定系统误差的取值在极限范围内具有随机性，并且服从认定的概率分布，而从其对仪器精度影响上看又具有系统误差的特性，故常用两种方法合成。 绝对和法 考虑到未定系统误差的系统性。若仪器有m个未定系统性源误差，其各单项未定系统误差出现的范围为 ，合成未定系统误差为 方和根法 考虑到未定系统误差的随机性。若有m个未定系统源误差，各项未定系统误差出现的范围为 ，当各项未定系统误差相互独立时，合成未定系统误差为 三、仪器总体误差的合成 1.一台仪器误差的综合 若一台仪器中各源误差相互独立，而未定系统误差数又很少，因而未定系统误差的随机性大为减小，可按系统误差来处理它，则一台仪器合成总误差为 若一台仪器中未定系统误差数较多，在仪器误差合成时，既考虑未定系统误差的系统性，又强调其随机性，可按下式合成 2.一批同类仪器误差综合 当计算一批同类仪器的精度时，由于未定系统误差的随机性大大增加，因此为强调其随机性，误差合成时将未定系统误差按随机误差来处理。各单项源误差相互独立，则总合成误差为 第五节 仪器误差分析合成举例 JDG-S1型数字显示式立式光学计是一种精密测微仪。它的结构特点是用数字显示取代传统立式光学计的目镜读数系统 。运用标准器（如量块）以比较法实现测量，适用于对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量。其技术参数为： 被测件最大长度（测量范围）：180mm 示值范围： 显示分辨率： 测量力： 示值变动性为： 图2—26 数字显示式立式光学计 a 1 2 3 4 6 5 7 8 9 s 一、数字立式光学计原理与结构 图2—27 数字式立式光学计原理图 1—光源 2—聚光镜 3—标尺光栅 4—光电元件 5－指示光栅 6－立方棱镜 7－准直物镜 8－平面反射镜 9—测杆 1.光学杠杆原理 将量杆9的微小位移 s 放大转换成标尺光栅刻线像在物镜焦平面上的位移；仪器物镜焦距 ，反射镜摆动臂长 ，根据光学杠杆原理，光学放大比 ，即标尺光栅刻线像的位移量是测杆位移量的31.25倍。 2.光栅传感器 当标尺光栅刻线像移动一个栅距 时 ，光电信号变换一个周期，此时对应量杆位移 ，电路上实现8倍细分，那么，仪器分辨率达到 。 二、数字显示式立式光学计精度分析 (一)仪器中的主要未定系统误差 1.光栅刻划累积误差所引起的局部误差 一般光栅刻划累积误差范围为 ,折算到测量端上的误差应再除以放大倍数（k=31.25），即 o 测杆 a 平面反射镜 标尺光栅 f 准直物镜 y 2.原理误差 在测杆位移 s 的作用下，平面反射镜偏转角 与标尺光栅刻线像的位移 y 的关系为 将 代入上式，得 ，解该方程得 近似取 ，有 可见，标尺光栅刻线像的位移 y 与测杆位移 s 之间的关系是非线性的 。 而测量过程是依据标尺光栅刻线像的位移量 y 以线性的光学放大比来估计测量结果 s0 于是，由实际仪器非线性特性与理论上的线性特性之间的矛盾将引起原理误差，为 仪器示值范围为