发射光谱仪中光谱干扰校正方法的应用和研究-电路与系统专业论文.docxVIP

啊!4141哪一 杭州电子科技大学硕士学位论文 发射光谱仪中光谱干扰校正方法 的应用和研究 研究生:王婷婷 指导教师:王 健教授 2011 年 1 月 Dissertation Submitted to Hangzhou Dianzi University for the Degree of Master Application and Research of Spectrum Interference Correction Methods in Emission Spectrorneter Candidate: Wang Tingting Supervisor: Prof. Wang Jian January ， 2011 摘要 ICP发射光谱仪是一款利用发射光谱学的原理和方法对待测样品进行相关指标(如浓度 等)精确测定的实验室分析仪器。 ICP-OES 技术最初的应用集中在冶金，地质，工矿，石化等 行业，用于检测矿物质或其加工制品中各种痕量元素的含囊，以确定上述物质的物化特性以 及确定再度加工的方法。目前随着 ICP一OES技术检测能力的进一步提高，其应用巳扩展到生命 科学，环保检测，食品安全，有机物分析等领域，可以达到更高的检测灵敏度和更低的检测 下限。 从仪器性能来看，提高检测灵敏度，达到更低的检出限和实现更好的稳定性始终是光谱 仪器追求的目标。制约上述目标实现的主要因素是测试过程中的光谱干扰和非光谱干扰，上述 干扰使得原本可以分辨的谱线变得难以分辨或难以确定谱线的强度。虽然在进样方式，射频 电源，等离子体截取装置，光学系统，探测器等方面的改进可以校正或削弱大部分的非光谱 干扰，但是光谱干扰仍然存在，谱线重盏，背景干扰，谱线嫖移等问题仍比较突出，因此采 用谱线分析算法校正干扰是必不可少的手段。通过对传统的和目前常用的分析算法考察发现， Kalman滤波方法用途广泛，几乎能解决所有谱线问题:大部分算法计算量仍偏大，不利于快 速校正:谱线拟合方法在校汪精确度方面仍有改进的余地:因此有必要在Kal man滤波算法、 快速谱线校正算法、谱线拟合算法的改进等方面进一步展开研究。 本文的主要内容:首先，论文分析了 ICP AES所存在的非光谱干扰和光谱干扰，将问题的 关键点锁定在校正光谱干扰方面:归纳传统的和目前常用的谱线分析算法，并对比分析其各 自的性能和特点。其次， 使用Kalman 滤波算法进行光谱分析功能的验证。采用 Kalman滤波方 法分别校正了谱图中的高斯白嘿声干扰，背景干扰，谱线蠢蠢，谱线漂移等问题。再次，使 用一种快速谱线分析的算法进行光谱分析功能的验证。在忽略高斯白噪声干扰以及谱线漂移 状况已得到校正的情况下快速校正背景干扰，谱线重叠等干扰因素，编程计算证明此方法计 算速度快，并且可以保证计算结果的准确性，使谱线分析更加高效。最后，使用基于谱数据 增强的高斯拟合算法进行谱线分析功能的验证。谱数据增强算法用于丰富发射光谱的原始谱 数据，从而提升算法对谱绒的辨识及分离能力;在数据增强的基础上使用高斯拟合算法进行 双峰以及多峰的分离拟合，拟合误差均在容许范围之内，计算结果证明此算法有效可行。 本文采用了三种改进的谱线分析算法来校.íE ICP-AES 中的光谱干扰问题.Kalman 滤波法可 以校正目前发现的所有干扰形式，快速谱线分析法可以更短的时间校正背景干扰和谱线蠢蠢， 改进后的高斯拟合法在多峰分离方面功能更好，计算速度和结果的准确性均有所提高。 关键词:发射光谱法，基体效应， Kalman 滤波法，谱数据增强，南斯拟合 ABSTRACT Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spec衍。meter is a kind of lab analysis instruments ， which is mainly used to precisely test some corresponding parameters ，such as concentration of samples，using the principle and methods of emission spectroscop予The originaI usage of ICP-OES is in metallurgy，geology，mine and petrifaction ，to detect trace elements concentrations in mineral or its productions ，and ωmake sure 也eir physical and chemical characteristics and aftertreatment. Now