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液冷计算机固体污染度检测的研究 　　摘要：随着微电子技术的发展，芯片的功耗越来越高，计算机逐渐使用液体冷却技术解决其散热问题。固体颗粒污染物存在于计算机流体通道内部，这些污染物在冷却液流动过程中对会冲蚀计算机的流体通道甚至造成快速接头故障。为了减少固体污染物对液冷计算机的危害，应限制液冷计算机的固体颗粒污染度水平，以保证液冷计算机在某一污染度水平下能够正常工作。因此，准确测试液冷计算机的固体颗粒污染度指标就至关重要。本文对固体颗粒污染度分级标准、污染度检测方法和检测要求进行了介绍，最后提出了液冷计算机固体污染度的检测方法。 　　关键词：液冷计算机、污染物、固体污染度、检测方法 　　中图分类号：X-652 　　0 引言 　　随着微电子技术的迅猛发展，芯片功耗越来越高，传统的自然冷却和强迫空气冷却的散热方式已经不能解决芯片的散热问题。与空气相比，液体的散热效率要高好很多。因此，液体冷却是解决计算机上大功耗芯片散热的一个较佳途径。液体在计算机板卡的散热壳体的液体通道内流动，带走板卡的热量从而达到对芯片进行冷却的目的。因此，冷却液会充满板卡的散热壳体和计算机机箱的液体通道。 　　液冷计算机使用的冷却液是由外部液冷循环冷却设备提供。从液冷循环冷却设备流出温度较低的冷却液进入液冷计算机后与计算机进行热交换，冷却液温度升高后从液冷计算机流出后进入液冷循环冷却设备进行冷却，进入下一个冷却循环。受现有工业水平的限制，液冷计算机内部必然残存一些固体颗粒污染物。固体颗粒污染物对电子设备带来影响，如冲蚀液冷计算机的流体通道或者卡死快速接头等。为了减少固体污染物对机载计算机的危害，应限制液冷计算机的固体污染度水平，以保证液冷计算机在某一污染度水平下能够正常工作。因此，准确检测液冷计算机的固体污染度水平就至关重要。本文对固体污染度的分级标准、污染度检测方法和检测要求进行了介绍，最后提出了液冷计算机固体污染度检测方法。 　　1 固体颗粒污染度分级 　　1.1 固体颗粒污染度分级标准 　　固体颗粒污染度分级标准是评定冷却液污染度等级的尺寸标准，目前广泛采用颗粒计数方法定级。如美国的NAS1638，国际标准ISO/DIS4406、ISO16889和我国的军标GJB420B等。 　　GJB420B-2006《航空工作液固体污染度分级》以美国AS4509（NAS1638的新版）分级标准为蓝本编制而成，按每100ml工作液中所含的6个尺寸段最大极限颗粒数，从000～12级共15个等级，如表 1所示。被测工作液污染度等级，按5μm粒径范围累计颗粒数所对应的污染度等级确定。例如，测得100mL工作液中5μm粒径的累计颗粒数是51234，处于7～8级，那么工作液的污染度是8级。其它粒径的颗粒数不作为定级的依据，只作为确定颗粒分布时参考使用，结果书写为GJB420B-8级。 　　表 1 GJB420B-2006固体污染度分级 　　每100ml液量颗粒数/个 　　尺寸代码 A B C D E F 　　尺寸 1μm 5μm 15μm 25μm 50μm 100μm 　　4μm（c） 6μm（c） 14μm（c） 21μm（c） 38μm（c） 70μm（c） 　　000 195 76 14 3 1 0 　　00 390 152 27 5 1 0 　　0 780 304 54 10 2 0 　　1 1560 609 109 20 4 1 　　2 3120 1220 217 39 7 1 　　3 6250 2430 432 76 13 2 　　4 12500 4860 864 152 26 4 　　5 25000 9730 1730 306 53 8 　　6 50000 19500 3460 612 106 16 　　7 100000 38900 6920 1220 212 32 　　8 200000 77800 13900 2450 424 64 　　9 400000 156000 27700 4900 848 128 　　10 800000 311000 55400 9800 1700 256 　　11 1600000 623000 111000 19600 3390 512 　　12 3200000 1250000 222000 39200 6780 1020 　　注：使用ACFTD标准物质校准或使用光学显微镜测试的尺寸，计量单位为微米，用μm表示；使用ISOMTD标准物质校准或扫描电镜测试的尺寸，计量单位也为微米，用μm（c）表示。 　　1.2 固体污染度确定原则 　　被测工作液的固体污染度等级，可根据工作要求在下列方法中选择： 　　a） 按照（B～E）尺寸范围100mL工作液中颗粒数最高等级确定固体污染