红外高发热精密探测器中恒温控制模块的设计.docVIP

红外高发热精密探测器中恒温控制模块的设计 　　摘要： 　　为了提高红外探测器在实际工作中的性能和稳定性，设计了一种针对高发热红外精密传感器的自动调节探测器外围温度的装置。该装置利用 C8051F350单片机对半导体制冷片进行制冷、制热和不同功率运行的控制，保持探测器外围温度的稳定。通过PID算法编程，结合多点测量实现环境温度的均匀性和稳定性。实验结果表明，在一天的工作时间内，该装置可使探测器外围的温度控制在20 ℃，控制精度为±0.5 ℃，显著提高了探测器的性能。 　　关键词： 　　半导体制冷； MCU； PID算法； 性能 　　中图分类号： TP 273.5文献标志码： Adoi： 10.3969/j.issn2016.02.012 　　Abstract： 　　In order to improve the performance and stability of the infrared detector， we design a temperature contoller to adjust the external temperature of the infrared detector intelligently. This equipment uses C8051F350 MCU to control refrigeration， heating and different power operation of semiconductor chilling plate. The uniformity and stability of environmental temperature of infrared detector is realized by PID algorithm and multipoint measurement. The experimental results show that the peripheral temperature of infrared detector was maintained at 20 ℃ with deviation of 0.5 ℃ during oneday working time， and demonstrate that this equipment could significantly improve the performance of the detector. 　　Keywords： semiconductor refrigerating； microcontroller unit （MCU）； PID algorithm； performance 　　引言 　　高稳定性的温度控制是红外高发热精密探测器模块的关键技术之一，提高探测器外围的温度稳定性有助于提高探测器的性能[1]。红外探测器在测量时的性能会随着外界温度变化和自身发热产生影响，温度变化会影响探测器的输出噪声、信号增益和输出信号的信噪比等。因而需要一个高精度高稳定性的恒温控制装置来提高探测器外围温度的稳定性。其设计通常包括两个方面：一是保温设计，通过增大温控箱外壁的热阻，减少内外的热交换，减少不必要的损耗；二是通过TEC制冷片进行制冷或制热，维持箱内温度的恒定。本文提出一种基于C8051F350控制芯片，结合PID控制算法的设计[2]，使探测器外围的控制目标温度为20 ℃，控制精度为±0.5 ℃。 　　恒温箱硬件设计框图如图1所示。整个恒温箱装置主要由恒温箱的核心控制模块、电源模块、温度采集模块、TEC制冷片及其驱动模块、LCD显示模块和通讯模块组成。 　　模块由LM2475M5提供DC 5 V，然后通过TPS7333QD和LM11173.3分别提供DC 3.3 V和AC 3.3 V。温度采集模块是用于实时检测温控箱内多个不同位置的环境温度。LCD是用来显示用户设定状态信息和箱内实际温度。根据实际温度和设定温度值进行比较，所得的差值通过PID算法进行处理，然后输出适当占空比的PWM波来驱动半导体制冷模块，使半导体制冷或者制热，以达到设定的工作温度环境。通过通讯模块向上位机发送当前工作状态并且接受上位机的指令。 　　2硬件电路设计 　　2.1电源模块 　　MCU部分电路的工作电压需要AC 5 V、AC 3.3 V和DC 3.3 V电压供电。首先通过开关电源把市电220 V/50 Hz转化为直流电24 V。通过LM2475M5提供DC 5 V给LCD显示模块供电，然后通过TPS7333QD和LM11173.3分别提供DC 3.3 V和AC 3.3 V给C8051F350数字部分和模拟部分供电。另有大功率的直流电源直接为制冷片驱动模块