SPC统计过程控制-培训教材.pptVIP

五、计数型数据控制图 1、P图/不良率控制图 ◆ P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。 ◆ 步骤： 1收集数据，选择子组容量、频率 和数量： -子组容量：需足够大(最好能恒定)，并有包含几个不合格品。 -分组频率：根据实际情况，兼容量大和信息反馈快的要求。 -子组数量：收集的时间需足够长，使得可以找到所有可能影响到过程 变差源，一般为25组 2计算每个子组的不良率(P)： P=np /n 3选择控制图的座标刻度并将不良率绘到图上。 4计算管制界限： -计算过程不良率(P bar): P bar=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/ (n1+n2+…+nk) -计算控制上、下限(P bar): 注：1从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之变化。 2在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时，可用平均样本 容量 n 代替n来计算控制限USL；LSL。方法如下： A、确定可能超出其平均值 ± 25%的样本容量范围。 B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围的子组。 C、按上式分别计算样本容量为 n 和 n 时的点的控制限. UCL,LCL = P±3 P (1–P )/n = P ± 3 p ( 1– p)/n 5划线并标注: 过程平均（P）为水平实线，控制限（USL； LSL）为虚线。 (初始研究时，这些被认为是试验控制限。） 2、nP图/不合格品数控制图 ◆采用时机： -不合格品的实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告。 -各阶段子组的样本容量相同。 3、C图/不良(缺陷)数控制图 ◆采用时机： -C图用来测量一个检验批内的不合格（的缺陷）的数量，C图 要求样本的容量恒 定或受检验材料的数量恒定，主要用于以下两类检验： 1不合格分布在连续的产品流上（如：每条尼龙上的瑕疵，玻璃上的气 泡或电线上绝缘层薄的点），以及可以用不合格的平均比率表示的地 方（如100平方米上的缺陷） 2在单个的产品检验中可能发现不同 原因造成的不合格。 4、u图/单位不良(缺陷)数控制图 ◆采用时机： -u图用来测量具有不同的样本（受检材料的量不同）的子组内每检验单 位产品之内的不合格数量（可以用不良率表示）。 六、计量型数据控制图 1、与过程相关的控制图 过程 人员 方法 材料 环境 设备 1 2 3 4 5 6 计量单位：(mm, kg etc) 结果举例 控制图举例 螺丝的外径（mm） 从基准面到孔的距离（mm） 电阻（Ω） 锡炉温度（oC） 工程更改处理时间（h） X图 R图 ? 不精密 测量方法必须保证始终产生准确和精密的结果 不准确 准确 精密 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 2、控制图的准备 ◆建立适合于实施的环境 -排除阻碍人员公正的因素 -提供相应的资源 -管理者支持 ◆定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响因素。 ◆确定待控制的特性。应考虑到： -顾客的需求 -当前及潜在的问题区域 -特性间的相互关系 ◆确定测量系统 -规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 -确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 ◆使不必要的变差最小 -确保过程按预定的方式运行。 -确保输入的材料符合要求。 -恒定的控制设定值。 注：应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的过程分析。 3、X bar-R图 计算各样组的平均数 计算这些组平均数的平均数 各常数值如下: n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.0 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.19 0.80 0.69 0.55 0.51 0.43 0.41 0.36 *对