实验三TTL/OS集成逻辑门参数测试(补页).docVIP

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实验三TTL/OS集成逻辑门参数测试(补页)

PAGE PAGE 83 实验三 TTL与CM0S集成逻辑门的参数测试 一、实验目的 1.掌握TTL“与非门”主要参数的意义及测试方法。 2.掌握CMOS“与非门”主要参数的意义及测试方法。 3.掌握TTL器件、CMOS器件的使用规则。 二、实验原理 在数字电路设计时,要使用各种门电路。门电路的参数的好坏,在很大程度上影响整机的性能和可靠性。 本实验通过测试TTL型 74LS00和CMOS型CD4011两种四2输入与非门的主要参数,掌握两类常用门电路的主要参数和测试方法。 74LS00和CD4011集成电路外引脚排列图如图3-1(a)、(b)所示。 (a)74LS00 (b) CD 4011 图3-1 74LS00和CD4011 (a)74LS00 (b) CD 4011 图3-1 74LS00和CD4011集成电路外引脚排列图 电路数据手册》系列中《TTL电路》、《TTL电路增补本》、《CMOS4000T》和《高速CMOS电路》材料编写,符合国家标准GB4589.1-84《半导体集成电路总规范》。 (一)TTL与非门主要参数 1.推荐工作条件 常见TTL门电路最佳工作条件如表3.1所示。 表3.1 推荐工作条件 型号 参数名称 7400系列 74LS00系列 单位 最小 额定 最大 最小 额定 最大 电源电压VCC 4.5 5 5.5 4.5 5 5.5 V 输入高电平电压VIH 2 2 V 输入低电平电压VIL 0.8 0.8 V 输出高电平电流IOH -400 -400 μA 输出低电平电流IOL 16 8 mA 2.电源电流 包括输出低电平时电源电流ICCL、输出高电平时电源电流ICCH。 与非门处于不同的工作状态时,电源提供的电流是不同的。ICCL是指输入全部高电平,输出为低电平且空载时,电源提供给器件的电流。ICCH是指每个门各有一个以上输入端为低电平(或接地),输出为高电平和空载时,电源提供给器件的电流。通常ICCL>ICCH ,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。器件的最大功耗为PCC=VCC·ICCL (PCC — 空载导通功耗指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功耗,VCC — 电源电压)。手册提供的电源电流和功耗值是指整个器件的电源电流和总的功耗。ICCL和ICCH测试电路如图3-3(a)所示。 【注意】TTL器件对电源电压要求较严格,电源电压VCC只许在+5V±10%的范围内,超过5.5V将损坏器件,低于4.5V器件的逻辑功能不正常。 3.低电平输入电流IIL与高电平输入电流IIH IIL是被测输入端接低电平0.2V、其余输入端悬空时,流经此输入端的电流值。(注:实验中可将输入端接地,这时测得为输入短路电流IIS,IIS≈IIL。实际IIS的数值比IIL的数值约大一点)。在多级门电路中,IIL为前级门输出低电平时,后级门的输入端向前级门灌入的电流,它会影响到前级门输出的低电平值(使输出低电平升高)。 IIH是被测输入端接高电平,其余输入端接地,流入被测输入端的电流值(也称输入漏电流IIH)。在多级门电路中,IIH是前级门输出为高电平时,流入后级门输入端的电流,它会影响到前级门输出的高电平值(使高电平降低)。由于IIH较小(IIH 为μA级,而IIL 为mA级),用一般万用表难以测出。IIH 、IIL的测量电路如图3-3(b)、(c)所示。 输入电流的值越小越好,可使输出门带动较多的同类门电路。 4.输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL VIH≥2V VIL≤0.8V 5.输出高电平电压VOH 、输出低电平电压VOL: 输出高电平电压VOH:输入端在施加规定电平下,被测输出端接拉电流负载,输出为高电平时的电压。对74LS00型门电路,测量时一个输入端接低电平(0.2V或接地),调节拉电流负载使输出电流IOH= - 400μA时,VOH ≥ 2.4V。 输出低电平电压VOL:输入端在施加规定电平下,被测输出端接灌电流负载,输出为低电平时的电压。对74LS00型门电路,测量时全部输入端接高电平(或悬空),调节灌电流负载使输出电流IOL= 8mA时,VOL ≤ 0.4V。 6.高电平输出电流IOH 、低电平输出电流IOL 由生产厂规定的额定输出电流值。对74LS型门电路,IOH= - 400μA(由输出端流出),IOL=8mA(由外部灌入)。 7.扇出系数NO NO是指门电路能正常驱动同类门的个数,它是衡量门电路带负载能力的一个参数。TTL与非门有两种不同性质的负载,即灌电流负载和拉电流负载,因此有两种扇出系数,即低电平扇出系数NOL和高

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