基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现分析-测试计量技术及仪器专业论文.docxVIP

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基于JTAG接口电路测试系统的上位机软件设计与实现分析-测试计量技术及仪器专业论文

分类号 密级 UDC 注 1 学 位 论 文 基于 JTAG 接口电路测试系统的上位机 软件设计与实现 (题名和副题名) 钱 浩 (作者姓名) 指导教师 谢永乐 教授 博导 电子科技大学 成 都 (姓名、职称、单位名称) 申请学位级别 硕士 学科专业 测试计量技术及仪器 提交论文日期 2014 年 5 月 14 日 论文答辩日期 2014 年 5 月 20 日 学位授予单位和日期 电子科技大学 2014 年 6 月 27 日 答辩委员会主席 詹惠琴 评阅人 詹惠琴、王子斌 注 1:注明《国际十进分类法 UDC》的类号。 THE PC SOFTWARE’S DESIGN AND REALIZATION OF CIRCUIT TEST SYSTEM BASED ON JTAG INTERFACE A Master Thesis Submitted to University of Electronic Science and Technology of China Major: Measuring and Testing Technologies and Instruments Author: Hao Qian Advisor: Professor Yongle Xie School: School of Automation Engineering 独创性声明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作 及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致谢的地方 外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为 获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与 我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的 说明并表示谢意。 作者签名: 日期: 年 月 日 论文使用授权 本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘, 允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全 部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描 等复制手段保存、汇编学位论文。 (保密的学位论文在解密后应遵守此规定) 作者签名: 导师签名: 日期: 年 月 日 摘 要 随着大规模集成电路技术的不断发展,元器件变得越来越小,电路的复杂度 也越来越高,传统的测试方法已经不能很好的适应这种发展趋势。在这种背景下, 边界扫描理论被提出,并在 1990 年形成了第一套边界扫描标准 IEEE 1149.1。在国 外,许多测试设备提供商开发了基于边界扫描标准的测试系统,包括测试控制器 和上位机软件;在国内,对该标准的研究和应用还处在初级阶段。在进行测试时, 上位机软件是最重要的,测试矢量的生成、测试响应的分析等都是在上位机软件 中实现。本文的主要研究工作就是对上位机软件进行设计和实现。 本文开发的上位机软件是在 VS2010 平台上基于 MFC 框架开发,并进行了以 下几个方面的分析、设计与实现。 首先对边界扫描原理进行了研究,如 TAP 端口、TAP 控制器、指令寄存器和 数据寄存器等。在对原理有一定的了解后,分析了三种边界扫描测试电路扩展方 式和边界扫描测试的流程。同时也对网表文件和 BSDL 文件的格式进行了分析, 为之后对这两种文件进行读取做好准备。 接着对边界扫描测试系统的总体设计进行了分析,同时对上位机软件的需求 进行了分析。需求分析是软件开发的重要环节,能对之后的软件具体开发工作起 到事半功倍的作用。 然后就是对上位机软件的具体设计和实现部分。本文把上位机软件主要分为 4 个模块:测试文件处理模块、测试矢量生成模块、USB 通信模块和项目管理与界 面设计模块。测试文件处理模块分为 BSDL 文件处理和网表文件处理,分别实现 了对 BSDL 文件的通用性解析和对多种 EDA 软件导出网表文件的解析;测试矢量 生成模块实现了对 ID 码指令、采样指令和外测试指令的测试矢量生成;USB 通信 模块利用 Cypress(赛普拉斯)公司提供的 CyAPI 实现了 USB 通信类的编写,实 现了与测试控制器的通信;项目管理与界面设计模块实现了工程文件的可移植性 和友好的操作界面。 最后通过对上位机软件、测试控制器和被测电路板进行联合调试,调试结果 表明本文开发的上位机软件能够实现预期的需求,即 ID 码测试、动态显示管脚状 态和设置管脚状态等功能。 关键词:IEEE 1149.1,边界扫描,BSDL,网表,CyAPI,INI ABSTRACT With the continuous development of the large scale integrated circuit technology,

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