基于JTAG接口电路测试与故障诊断系统的硬件电路设计-测试计量技术及仪器专业论文.docxVIP

分类号 密级 公开 UDC 注 1 学 位 论 文 基于 JTAG 接口的电路测试与故障诊断系统的硬件电路设计 （题名和副题名） 陈 东 （作者姓名） 指导教师 谢永乐 教授 电子科技大学 成都 （姓名、职称、单位名称） 申请学位级别 硕士 学科专业 测试计量技术及仪器 提交论文日期 2013-05-20 论文答辩日期 2013-05-30 学位授予单位和日期 电子科技大学 2013 年 06 月 日 答辩委员会主席 评阅人 注 1：注明《国际十进分类法 UDC》的类号。 独创性声明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工 作及取得的研究成果。据我所知，除了文中特别加以标注和致谢的地 方外，论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果，也不包含 为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。 与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明 确的说明并表示谢意。 作者签名： 日期： 年 月 日 论文使用授权 本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文 的规定，有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘， 允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全 部或部分内容编入有关数据库进行检索，可以采用影印、缩印或扫描 等复制手段保存、汇编学位论文。 （保密的学位论文在解密后应遵守此规定） 作者签名： 导师签名： 日期： 年 月 日 摘 要 摘 要 当今时代被称为“信息时代”，现代社会发展的一个重要内容是信息科学技术 的快速发展，信息科学技术已经进入到了社会生活的各个方面并发挥着越来越大 的作用。测试测量技术被广泛的运用于电子设备行业，涉及了信息技术的各个方 面。 随着微电子技术的快速发展以及电子元器件广泛采用高密度引脚的表面封装 形式，使得数字设备更加复杂，功能更多，规模更大。传统的测试方法越来越难 以对现代数字电路设备进行测试，而且测试代价（包括测试费用和测试时间）也 越来越难以接受。在此背景下，一种新的测试标准—即边界扫描测试技术，也称 之为 IEEE1149.1 标准协议出现了，边界扫描测试技术的实现方法是通过预先在芯 片管脚增加电路的虚拟探头作用，通过该虚拟探头来实现对数字电路的测试。针 对板级数字电路中普遍使用的主要元器 CPLD、FPGA 和 DSP 等均已支持边界扫 描测试的背景下，本文开发并实现了一种基于边界扫描测试技术的数字电路测试 与故障诊断的测试系统，该系统采用图形化界面进行测试诊断，可实时获取被测 数字电路的状态并显示，能够快速准确地对数字电路进行测试与故障诊断。 本课题所设计开发的数字电路测试及故障诊断系统是由上位机软件部分和测 试控制器硬件部分组成。作者在掌握可测性设计理论，了解国内外可测性设计技 术发展动态，掌握相关的故障诊断算法核心及实现，使用边界扫描测试的 IEEE 1149.1 规范，设计了本文数字测试及故障诊断系统的主要功能是基于边界扫描测 技术实现功能测试、芯片管脚状态的即时获取、对具体管脚状态的设置以及实现 互连测试功能，最后通过上位机软件进行显示与故障定位。本文所研究的重点和 系统开发的主要内容是边界扫描测试控制器的硬件实现。测试控制器提供测试所 需的可变测试时钟，同时测试控制器获取来自上位机的测试数据，通过对测试数 据的格式与内容进行分析处理，确定测试类型，执行相应的操作。在测试过程中 对数据进行存储处理。测试控制器与上位机之间通过 USB 电缆连接，USB 传输使 用 CYPRESS 公司生产的专用接口芯片实现，相比串口等系统数据传输速率大大的 提高，具有线上升级功能。同时测试控制器采用 FPGA 实现，具有在线可编程能 力，整个测试控制器可升级，使用方便，具有较好的通用性。 本文以多板卡数字电路系统板作为本文的被测电路，该电路具有较好的可测 I 摘 要 性设计，满足测试要求。通过使用本文的测试系统,，经过实际的测试诊断，给出 测试诊断结果。实验结果表明，硬件系统设计成功，运行稳定，测试准确，精度 较高，具有很好的实用价值。 关键词：IEEE1149.1，边界扫描，数字电路，测试诊断，USB II ABSTRACT ABSTRACT The present era is called Information Age, the rapid development of information science and technology has become an important content of the modern society, information science and technology is penetrating into all aspects of social l