电子显微分析基础知识系列培训讲座.pdf

电子显微分析基础知识系列培训讲座 电子显微镜作为观察微观世界的“眼睛”，在现代科学技术的发展中发挥着极为重要的 作用。在运用电子显微分析方法研究材料微观结构的过程中，对研究者的理论知识和实验 技能均有较高要求。在我们的实际工作中，发现来电镜室进行样品测试的绝大多数的研究 生和其他用户并没有系统的学习过电子显微分析方法，这在一定程度上影响了研发工作的 顺利开展。基于此，中科院苏州纳米所人力资源处、研究生部和测试平台决定于11 月中旬 开始举办针对电子显微分析基础知识的系列讲座，主讲人为在电子显微分析和晶体材料研 究领域有着多年研究经验的四位博士：曾雄辉、牛牧童、苏旭军、黄俊。 系列讲座均为免费参加，欢迎广大同学和工作人员积极报名参加，报名截至日期为11 月15 日。报名方式：填写“姓名＋课题组/公司＋Email+联系电话”发送至以下邮箱： xmdong2012@sinano.ac.cn 每周1 讲，第1 讲开始日期为11 月18 日下午14：00 －16：00 。讲座地点将根据报名 人数的多少确定后另行通知。 讲座内容 主讲人 第1 讲：晶体学基础I ：点阵、对称元素、点群、空间群的 曾雄辉 晶体学基 基本概念 博士 础 第2 讲：晶体学基础II ：晶体中的缺陷种类：点缺陷、位 黄俊博士 错、层错、晶界等的基本概念和主要表征手段。 苏旭军 电子光 第3 讲：电子光学基础 博士 学、电镜 牛牧童 基本结构 第4 讲：透射电镜的基本结构和样品制备方法 博士 第5 讲：电子衍射I: 布拉格定律、倒易点阵与Ewald 作图 电子衍射 法、结构因子计算。 曾雄辉 基础 第6 讲：电子衍射II: 晶带定律、倒易点阵平面画法、选区电 博士 子衍射谱的分析。 第7 讲：相位衬度成像透射电子显微术(HR-TEM)的基本原 苏旭军 理和应用 博士 透射电子 第8 讲：高角度环形暗场扫描透射成像(HAADF-STEM) 的基 牛牧童 成像理论 本原理及应用 博士 第9 讲：电子衍衬成像的基本原理及其在晶体缺陷表征分析 曾雄辉 中的应用 博士 第10 讲：电子显微分析中的谱学I: X 射线能谱分析 电子显微