2019年统计过程控制培训教材1.ppt

横坐标：按时间顺序抽样的样本编号 1）不是在研究一门精确的科学，而是作为一种谨慎的工业指导； 2）大部分的实际情况的数据分布与正态分布极为相似； 3）如果不适合可以不需要用正态曲线直接来分析； 操作人员经过培训，操作水平显著提高； 设备更新、经过修理、更换零件； 改变工艺参数或采用新工艺； 改变测量方法或测量仪器； 采用新型原材料或其他原材料； 环境变化。 一个点出现在某个区间的概率为； 整体中 %落在这个范围内； 三、探测小变化的控制图 有这样一些情况，当过程均值发生小的变化就能够引起问题。休哈特控制图不能足够灵敏而有效地探测这些变化，如小于1.5σ。这里讨论的两个可供选择的控制图是可以用来改进灵敏性，以探测过程均值小的漂移。虽然典型的休哈特控制图只使用由最近数据点所提供的信息，累积和（CUSUM）和指数加权平均移动（EWMA）控制图开发使用累积的、历史的数据中的有用信息。参见Montgomery(1997)、Wheeler(1995)、Grant与Leavenworth(1996)关于这些方法和与补充的探测规则比较的深入讨论，这些补充的探测规则是用于加强休哈特控制图对小的过程移动的灵敏度。 1.累积和（Cumulative Sum, CUSUM）控制图 累积和控制图在图上标出了连续样本均值与目标规范值的偏差的累积和，所以即使过程均值发生很小的永久性移动（0.5σ或以下），最终都将发出信号表明移动已经发生。对于大的移动，休哈特控制图时正好是有效的，并且花费较少努力。 这些控制图大多数常用于监控连续的过程，例如化学工业，在那里小地移动能产生显著的影响。 1.累积和（Cumulative Sum, CUSUM）控制图 涂层厚度的V模板控制图 目标=0 样本 累积和 0.0 -0.2 -0.4 -0.6 -0.8 -1.0 -1.2 -1.4 1 5 10 15 20 23 25 30 35 使用V-模型的累积和控制图 累积和控制图评价绘图线的斜率。将图形工具（V-模板）布在控制图上，并使垂直参考线在控制图上从V的原点便宜到最后的绘图点（见图Ⅲ.5）。两臂的偏移量和角度是过程移动灵敏度的想得到的水平的函数。当先前描点落在V-模板两臂之外时就显示了失控的情形（如，一个显著的过程移动）。这些臂代替了上、下控制限。 在图Ⅲ.5中的控制图指示过程移动大约发生在样本14或15的时间。由于这个控制图的性质，移动直到23点被描出时才被探测到。当这个V-模板被放置在先前的数据点上，所有的样本落在控制限以内，所以没有超出控制情况的指示。 1.累积和（Cumulative Sum, CUSUM）控制图 UCL=1.0536 LCL=0.8869 X=0.9702 1.02 单值 涂层厚度单值移动极差控制图 0.96 0.90 0.84 UCL=0.1024 MR=0.0313 LCL=0 1 5 9 13 17 21 25 29 33 37 1 5 9 13 17 21 25 29 33 37 移动极差 0.12 0.08 0.04 0.00 V型模板有两个设计参数: ◇ d(前置距离):即模板的顶点V到基点P的水平距离. ◇ θ(半角):即模板两边线之间夹角的一半. 一组参数(d, θ)决定一个累积和控制图的检验方案,根据序贯理论,近似有 式中: D为拒绝接收(过程判断为异常)的允许偏移的最大值(幅度); A为累积和控制图的尺寸参数; 2α为双侧检验时的第类型错误的发生概率. 例:某企业对生产过程应用累积和控制图并用V型模板作为判定界限,控制质量特性值的均值的偏移,步骤如下: 设:取 α=0.005 μ0=0 δ=1.0 n=10 δx=0.71 A=2δx=1.42 步骤1 预备数据的取得