太阳能组件EL测试原理.pdfVIP

电致发光检测方法及其应用 电致发光检测方法及其应用 Willurpimd, Jacky 电致发光，又称场致发光，英文名为 Electroluminescence，简称EL。目前，电 致发光成像技术已被很多太阳能电池和组 件厂家使用，用于检测产品的潜在缺陷， 控制产品质量。 一、EL测试原理 图1 EL测试原理图 EL的测试原理如图1所示【1】，晶体 图2 EL强度决定于正向注入电流密度和少子扩散长度 硅太阳电池外加正向偏置电压，电源向太 EL图像的亮度正比于电池片的少子扩 阳电池注入大量非平衡载流子，电致发光 散长度与电流密度（见图2【2】），有缺 过程中，很容易产生裂片，裂片分两种， 依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不 陷的地方，少子扩散长度较低，所以显示 一种是显裂，另一种是隐裂。前者是肉眼 断地复合发光，放出光子；再利用CCD相机 出来的图像亮度较暗。通过EL图像的分析 可直接观察到，但后者则不行。后者在组 捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后 可以有效地发现硅材料缺陷、印刷缺陷、 件的制作过程中更容易产生碎片等问题， 显示出来，整个的测试过程是在暗室中进 烧结缺陷、工艺污染、裂纹等问题。 影响产能。 行。 通过EL图就可以观测到，如图3所示， 本征硅的带隙约为1.12eV，这样我们 二、EL图像分析 由于（100）面的单晶硅片的解理面是（ 可以算出晶体硅太阳电池的带间直接辐射 111），因此，单晶电池的隐裂是一般沿着 复合的EL光谱的峰值应该大概在1150nm附 1.隐裂 硅片的对角线方向的“X”状图形。 近，所以，EL的光属于近红外光（NIR）。 硅材料的脆度较大，因此在电池生产 电致发光检测方法及其应用 电致发光检测方法及其应用 Willurpimd, Jacky 但是由于多晶硅片存在晶界影响，有 时很难区分其与隐裂，见图4的红圈区域。 所以给有自动分选功能的EL测试仪带来困 难。 图4 多晶片的EL图 图5 印刷断线的EL图 2.断栅 3.烧结缺陷 一般而言，烧结参数没有优化或设备 印刷不良导致的正面银栅线断开，从 存在问题时，EL图上会显示网纹印(图6左) 图5的EL图中显示为黑线状。这是因为栅线 。采取顶针式或斜坡式的网带则可有效消 断掉后，从busbar上注入的电流在断栅附 除网带问题，图6右是顶针式烧结炉里出来 图3 单晶硅电池的隐裂EL图及区域放大图 近的电流密度较小，致EL发光强度下降。 的电池，图中黑点就是顶针的位置。 电致发光检测方法及其应用 电致发光检测方法及其应用 Willurpimd, Jacky