基于IDDT的数字电路故障诊断探究.pdfVIP

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2019-03-19 发布于广西
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基于IDDT的数字电路故障诊断探究.pdf

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2011’年7月1日现代电子技术 Jul．2011 Modern Electronics V01．34No．13 第34卷第13期 Technique 基于IDDT的数字电路故障诊断研究余长庚，赖丽萍 (贺州学院，广西贺州 542800) 摘要：数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障。开路故障不会立即引起电路的功能性故障，但它会引起延时性故障，并且不能用电压的方法来探测。针对数字电路中的电阻性开路故障，采用了数字电路的瞬态电流J。DT测试和利用小波技术的定位方法。关键词：电阻性开路故障；瞬态电流JDDT；小波分析；数字电路中图分类号：TN79—34 文献标识码：A 文章编号：1004—373X(2011)13—0179—04 Based of CircuitDefects IvDT DiagnosisDigital YU Chan-geng．LAILi—ping (Hezhou 542800，China) University，Hezhou of Abstract：The defectsinthe circuitreferstoan circuitconnectionresistorsbetweentwo resistive-open digital imperfect circuitnodesthatshouldbeconnected．A defectdoesnotcauseafunctionfault it cause resistive-open immediately，butmay the cannotbedetectedwiththemethodof testmethodoftransient resistive fault，and current(IDDT)for delay voltage：A can faultsis ensurethelocationofthefaultmeansofwavelet open proposed．It by analysis． circuit Keywords：resistive-opendefect；transientcurrent(ImT)；waveletanalysis；digital 弱开路(≤10 0 引言障，因此可以通过施加有规则性的固定向量来检测；弱近十年来，国内外开始研究瞬态电流工DDT测试方开路故障能引起延时性故障，因此不能用原来测试固定法，通过对瞬态电流波形的研究发现，它能够探测到电阻性