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集成运放综合参数测试仪的设计 　　集成运放综合参数测试仪的设计 　　摘要：集成运放是模拟电路中很重要的一种器械，但一般实验室因为各种原因都不配备次器件。本文作者针对当前的这种现象，设计一款精度高、稳定性好和成本低的集成运放综合参数测试仪。该测试仪使用了STC12C5A60S2单片机、显示部分采用HY - 220 TFT彩屏、信号源为AD9850，主要用于测试运放芯片的参数和功能。　　关键词：集成运放；参数测试仪；运放芯片　　The integrated operational amplifier integrated parameter tester　　Abstract:The integrated operational amplifier is a very important instrument in analog circuits, but the general laboratory for various reasons are not equipped with a device.In this paper, the author of this phenomenon,The integrated operational amplifier parameters tester design a good stability and low cost.The tester uses the STC12C5A60S2 microcontroller, display using HY - 220 TFT color screen, the signal source for AD9850,The integrated operational amplifier parameters tester is mainly used for parameter and function test chip.　　Keywords: operational amplifier;Parameter tester;Chip　　目录　　第1章 绪论2　　1.1 集成运放综合参数测试仪概述2　　1.2 研究内容与研究意义2　　第2章 集成运放综合参数测试仪总体方案设计3　　2.1 集成运放综合参数测试仪具体参数设计3　　2.2集成运放综合参数测试仪芯片选择5　　2.3 集成运放综合参数测试仪整体设计6　　第3章 集成运放综合参数测试仪硬件设计13　　3.1 STC89C52单片机核心控制部分设计13　　3.2 运放测试部分设计14　　3.3信号源部分设计14　　3.4显示部分设计15　　第4章 集成运放综合参数测试仪软件设计17　　4.1 编程及相关软件使用说明17　　4.2 显示部分设计19　　4.3 AD转换部分软件设计20　　4.4按键部分软件设计23　　第5章 结论25　　致谢27　　参考文献28　　附录129　　附录230　　参考文献　　[1] 谢自美主编.电子线路设计·实验·测试, 华中理工大学出版社　　[2] 内山明治.运算放大器电路..科学出版社，XX　　[3] 冈村迪夫.OP放大电路设计.科学出版社，XX　　[4] 胡汉才.单片机原理及其接口技术.清华大学出版社，1996　　[5] 王松武，于鑫.电子创新设计.国防工业出版社，XX　　[6] 谢红主编.模拟电子技术.哈尔滨工程大学出版社，XX　　[7] 岩石主编.数字电子技术基础.高等教育出版社，XX　　[8] 康华光，陈大钦，张林．电子技术基础-模拟部分（第五版）. 北京：高等教育出版社，XX.1　　[9] 赵忠文，曾峦，熊伟．LVDS技术分析和设计应用．学报：指挥技术学院学报，XX.12　　[10] 李荣正，刘启中，陈学军．单片机原理及应用．北京：北京航空航天大学出版社，XX　　[11] 中国计量出版社组编．新编电子电路大全．北京：中国计量出版社，XX.1　　[12] 何希才　著．常用电子电路应用365例．北京：电子工业出版社，XX.9　　[13] 刘辉主编．电子测量仪器与测量技术．安徽：中国科学技术大学出版社，1992　　[14] 郭茂生等. 电子仪器原理．北京：国防工业出版社，1989　　[15] 全新实用电路集粹丛书委员会编. 科教，娱乐应用电路集粹．北京：机械工业出版社， XX.2　　[16] 任为明 主编. 电子技术基础．北京：中央广播电视大学出版社， 1997.5　　[17] 程家瑜. 未来10年我国可能实现产业跨越式发展的重大核心技术 ，XX　　[18] 俞建峰. 我国集成电路测试技术现状及