串联电容器及成套装置技术.ppt

4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.1 内熔丝下限熔断试验应该用交流还是直流进行。 虽然直流试验时的元件储能是确定的，但不存在故障元件的熔丝流过工频续流的能量。 交流击穿时的储能是不确定的，即使击穿时的储能没有熔断，此后故障段工频续流全部通过故障元件熔丝是熔丝熔断关键。 也就是说：通过直流下限试验的熔丝，是可以通过交流下限试验的，反之则不然（充分不必要条件）。 既然直流不容易熔断， 熔丝下限试验通过与否，确定以直流试验为准。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构是采用三膜还是采用两膜的好 常言道：金无足赤人无完人，电容器固体介质采用的是电工聚丙烯薄膜，同其它电介质一样，也不可避免存在着电弱点。这些电弱点包括：金属、非金属（如炭）粒子、灰分及针孔等。 国标（GB/T13542.3-2006）《电气绝缘用薄膜 第三部分：电容器用双轴定向聚丙烯薄膜》6.3条 关于电气弱点的规定：电气弱点应按IEC60674-2:1988中第19章的规定测试。施加的电气强度为200V/μm，被测试样的最小面积5m2 ，所测得的弱点数不超过表3所规定的值。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构采用三膜还是采用两膜为好 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构采用三膜还是采用两膜为好 为了避开电弱点的影响，将电容器极间固体介质多层叠放，彼此弱点相互隔离，减少绝缘介质电弱点贯穿的可能性。 尚若采用两膜结构，当一层膜存在弱点，极板间的耐电强度仅由一层膜承担。 显然三膜介质电弱点重合概率远小于两膜介质结构。并联电容器大多数采用的三膜结构。 从可靠性角度看，串联电容器应当采用三膜结构的好。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构采用三膜还是采用两膜为好 实际试验情况： 在进行1.15Ulim/10s和1.35Ulim/300～500ms过电压特殊试验时，在同样的试验条件下，所有的三膜结构的试品全部（全军覆没）击穿，而两膜结构的试品则大部分通过了试验。 究其原因，这和串联电容器的运行工况有关，串联电容器需要经受幅值较高暂态过电压，而暂态过电压造成元件击穿主要发生在边沿，两膜结构的边沿电场分布较三膜边沿的相对均匀，两膜元件的额定电压又比三膜元件额定电压低。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.2 串联电容器介质结构采用三膜还是采用两膜为好 最终串联电容器的介质结构确定为两膜结构。 4.3 短路放电试验和熔丝下限隔离试验是否矛盾？ 国标（GB/T6115.1-2008）《电力系统用串联电容器 第一部分：总则》5.2.1条例行试验中：内部熔丝放电试验，5.2.2条型式试验中：放电电流试验。熔丝应当经受上述试验下的储能。 国标（GB/T6115.3-2002）《电力系统用串联电容器 第三部分：内部熔丝》2.2条隔离要求：当元件在0.5√2UN和√2 Ulim电压范围内发生电击穿时，熔丝应能使故障元件隔离开来。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.3 短路放电试验和熔丝下限隔离试验是否矛盾？ 以CAM 6.15-558-1W型串联电容器为例，内部电气连接19并4串，计算下限隔离储能为105.2J，短路放电元件储能为123.6J，短路放电元件储能大于下限隔离储能。 选择熔丝临界熔断能量时，通常要求熔丝的临界熔断能量大于短路放电能量，小于熔丝下限隔离能量为边界条件。 上述电容器，如果选择临界熔断能量大于短路放电能量，满足短路放电熔丝不被熔断的条件，但熔丝下限隔离也不会熔断，反之若选择熔丝下限隔离熔断，短路放电时熔丝也会熔断，熔丝临界能量选择处于两难境地。 4. 串联电容器设计中的几个争议问题 4.3 短路放电试验和熔丝下限隔离试验是否矛盾？ 4.串联电容器设计中的几个争议问题 内容 欠阻尼短路放电回路电阻/电感量 熔丝吸收能量效率 回路电阻能量 吸收效率 单次放电熔丝温升 数值 0.127Ω/5.688μH 1.7% 98.3% 31.1℃ 一些专家形象的比喻：一条被子顾头顾不了脚。 通过对欠阻尼短路放电波形分析，短路放电时的能量分配并不完全消耗在熔体上，其中大部分是消耗在熔丝以外的回路电阻上。 熔丝的设计重点应当放在下限隔离上。经过试验将验证，所设计的熔丝在欠阻尼短路放电时没有出现熔断，而在下限隔离试验时可靠熔断。 4.3 短路放电试验和下限隔离试验是否矛盾？ 5. 串联电容器设计可