光学元件外径的机器视觉测量技术探究.pdfVIP

下载本文档

1
0
约1.46万字
约 5页
2019-04-28 发布于浙江
举报
版权申诉

光学元件外径的机器视觉测量技术探究.pdf

1、本文档共5页，可阅读全部内容。
2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

第卷第期光学仪器，３８４Ｖｏｌ．３８Ｎｏ．４　　　　年月，２０１６８Ａｕｕｓｔ２０１６ＯＰＴＩＣＡＬＩＮＳＴＲＵＭＥＮＴＳｇ文章编号：（）１００５-５６３０２０１６０４-０２９２-０５　　光学元件外径的机器视觉测量技术研究许楠楠，刘缠牢（西安工业大学光电工程学院，陕西西安７１００２１）　摘要：基于机器视觉技术，采用平行光投影获取光学元件轮廓图像，通过行扫描提取目标，使用最小二乘线性回归边缘检测方法，将直线边缘定位精度达到亚像素级别，使测量精度达到微米级。实验结果表明，采用机器视觉的非接触测量方法可以实现对光学元件外径的快速准确测量。关键词：机器视觉；目标提取；亚像素边缘检测中图分类号：文献标志码：：／ＴＮ２７４Ａ doi １０．３９６９．ｉｓｓｎ．１００５-５６３０．２０１６．０４．００３　　ｊ Researchonmachinevisionmeasurementtechnology formeasurin o ticalelementdiameter g p ， XUNannan LIUChanlao （， ’ ， ’ ，）ＳｃｈｏｏｌｏｆＯｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃＥｎｉｎｅｅｒｉｎＸｉａｎＴｅｃｈｎｏｌｏｉｃａｌＵｎｉｖｅｒｓｉｔＸｉａｎ７１００２１Ｃｈｉｎａｐｇｇｇｙ：， Abstract Ｂａｓｅｄｏｎｍａｃｈｉｎｅｖｉｓｉｏｎｔｅｃｈｎｏｌｏｗｅｕｓｅｔｈｅａｒａｌｌｅｌｌｉｈｔｒｏｅｃｔｉｏｎｔｏｏｂｔａｉｎｇｙｐｇｐｊ，ｏｔｉｃａｌｅｌｅｍｅｎｔｃｏｎｔｏｕｒｉｍａｅ．Ｂｌｉｎｅｓｃａｎｔｏｅｘｔｒａｃｔｔａｒｅｔｗｅｕｓｅｔｈｅｌｅａｓｔｓｕａｒｅｓｌｉｎｅａｒｐｇｙ