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西安交通大学城市学院本科生毕业设计(论文)
绪论
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绪论
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本科毕业设计论文
题 目 简易数字集成电路测试仪的设计与实现
毕业论文(设计)原创性声明
本人所呈交的毕业论文(设计)是我在导师的指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知,除文中已经注明引用的内容外,本论文(设计)不包含其他个人已经发表或撰写过的研究成果。对本论文(设计)的研究做出重要贡献的个人和集体,均已在文中作了明确说明并表示谢意。
作者签名: 日期:
毕业论文(设计)授权使用说明
本论文(设计)作者完全了解**学院有关保留、使用毕业论文(设计)的规定,学校有权保留论文(设计)并向相关部门送交论文(设计)的电子版和纸质版。有权将论文(设计)用于非赢利目的的少量复制并允许论文(设计)进入学校图书馆被查阅。学校可以公布论文(设计)的全部或部分内容。保密的论文(设计)在解密后适用本规定。
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作者签名: 指导教师签名:
日期: 日期:
摘 要
随着数字集成电路日益广泛的应用,其相关的测试技术也显得愈发重要。为了保证数字集成电路的功能和性能参数符合技术要求,在集成电路的设计验证、产品检验以及现场维护等方面都需要对集成电路进行测试。而测试设备是必不可少的工具,因此研究它们的测试技术和开发测试设备具有重要的意义。
本文所设计的集成电路测试仪采用MCS-51单片机为核心,构建数字集成电路的测试仪器,该仪器能够通过单片机程序对数字集成芯片插座进行控制和测试,可以完成对TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的测试。测试仪使用了串口通信方式的LCD汉字液晶显示器,以便节省出更多的单片机接口供测试更多管脚的集成电路。针对不同型号的集成电路Vcc和GND位置不同,在电路中使用了P沟道CMOS管来作为Vcc切换开关。测试仪设计了总线标准接口RS-232,能够实现与PC机的联机。通过对大量的TTL、CMOS集成电路的分析,建立了测试数据库。通过编写测试程序,最终以速度快、准确率高的测试结果实现了测试TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的任务。
论文第一章阐述此次设计的背景及意义、国内外数字电路测试系统现状、本文要解决的主要问题。第二章对系统总体方案进行描述。第三章详细说明整个硬件系统的构成。第四章主要说明软件测试的实现。第五章叙述测试结果。
通过对实验电路和程序进行测试和试运行,结果证明达到了设计要求。以MCS-51单片机为核心的数字集成电路测试仪,硬件电路简单可靠,软件测试精确快速。并且具有体积小、重量轻、成本低等优点。
关键词:数字集成电路,功能测试,MCS-51单片机,LCD
ABSTRACT
With the increasingly widespread application of digital integrated circuits, the related testing technology becomes increasingly important. To ensure the functions of digital integrated circuits and performance parameters meet the technical requirements, in integrated circuit design verification, product testing and on-site maintenance and other aspects need to test integrated circuits. The test equipment is essential to tools, test technology research and development of their test equipment is of great significance.
This integrated circuit tester designed by MCS-51 microcontroller core, build digital integrated circuit testing equipment, the equipment is able to process the digital single chip control IC sockets and test, to be completed on TTL74/54,
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