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测量系统分析的目的 测量系统分析的目的是确定所使用的数据是否可靠 测量系统分析还可以: 评估新的测量仪器 将两种不同的测量方法进行比较 对可能存在问题的测量方法进行评估 确定并解决测量系统误差问题 数据的质量 数据的质量取决于从处于稳定条件下进行操作的测量系统中,多次测量的统计特性,如:假设使用某一在稳定条件下操作的测量系统对某一特定特性值进行了几次测量,如果这些测量值均与该特性的参考值(master value)“接近”),那么,数据的质量被称为“高”;同样,如果部份或所有的测量值与参考值相差“很远”,则数据的质量很“低” 描述测量数据质量的统计特性 通常用来描述测量数据质量的统计特性是某测量系统的偏倚(Bias)和变差(variance)。 被称为偏倚的统计特性指的是数据值相对于参考(基准)值的位置。 被称为变差的特性指的是数据的分布宽度。 低质量数据的原因和影响 低质量数据的普遍原因之一是变差太大 一组数据中的变差多是由于测量系统及其环境的相互作用造成的。 如果相互作用产生的变差过大,那么数据的质量会太低,从而造成测量数据无法利用。如:具有较大变差的测量系统可能不适合用于分析制造过程,因为测量系统的变差可能掩盖制造过程的变差。 有关测量数据的常见问题 什么是测量? 将一个未知量与一个已知的或已经接受的参照值进行的比较 为什么我们需要测量数据? 我们使用测量数据来判断产品是否合格,制定有关过程管理的决策。 我接受这件产品吗? 过程是很好,还是需要进行调整? 我们对测量数据有什么期望? 准确性:数据必须告诉我们真相! 重复性:重复测量必须产生同样的结果! 再现性:结果不应该受检验员的影响。 什么是测量仪器? 用来进行测量的任何仪器。 什么是检验员(或者鉴定人)? 使用测量仪器进行测量的个人或装置 有关测量数据的常见问题 测量系统:不仅指量具。 测量系统包括:人(及其培训)、过程(测量程序)、设备(量具或测量工具)、系统的控制点、及所有这些因素的相互作用。 测量总偏差: 总的观察偏差=过程偏差+测量系统偏差 测量是一个能影响所观察值的中心值和偏差的过程。 有关测量数据的常见问题 Gage RR分析是用来分析测量系统的方法,目的是确定测量某种东西时出现的波动(误差)的大小和类型。 将“测量系统”看作是会给测量数据带来额外误差的子过程,其目的就是使用误差尽可能小的测量过程。 任何观测数据的误差,都是部件的实际误差和测量系统误差的总和。 测量系统的规划(一) 由APQP小组根据被测量特性的重要程度确定测量系统。同时考量: 产品规范是什么?预期的过程变差是多少?需要什么样的分辨率? 量具需要怎样的操作方式?需要操作者具备哪些技能?怎样培训? 如何测量?是否人工测量?在哪里测量?零件的位置和固定是否是可能的变差来源?接触测量还是非接触测量? 测量如何被校准?校准频率?谁来校准? 测量系统规划(二) 测量生命周期的考量:随着时间的不同,对过程了解及过程的改进,测量方法可能改变。 如:为了建立稳定的和有能力的过程,可能开始对一个产品特性测量,透过测量了解直接影响产品特性的关键过程特性,这种了解意味着对产品特性的信息依赖少了,可以减少抽样计划并简化测量方法。最后,可能只监测极少数的零件,只要过程被维护着或测量和监控这维护及工装,也就是必要的工作了。 测量的程度是依赖着对过程理解的程度。 测量系统开发检查清单的建议要素 本清单应该根据测量系统的情况和类型进行修改。最终检查清单的建立应该是顾客和供方合作的结果。 第1类要素:与测量系统设计和开发有关的问题 被测特性是什么?特性的类别是什么?是机械上的特性吗?是动态的还是静态的?是一项电的特性吗?其零件内部变差大吗? 测量过程的结果(输出)将被应用的目的是什么?生产改进、生产监控、实验室研究、过程审核、出货检验、进货检验、对D.O.E的回应? 谁将使用该过程?操作者、工程师、技术员、检验员、审核员? 培训要求:操作者、维修人员、工程师;教室、应用实习、在职训练、学徒期间。 第1类要素:与测量系统设计和开发有关的问题 变差的原因是否已被识别?透过小组、头脑风暴法、渊博的过程知识、因果图或矩阵图等方法建立一个误差模型(S.W.I.P.E或P.I.S.M.O.E.A). 是否展开了测量系统的FMEA? 弹性的或专用的测量系统:测量系统可以是固定的、专用的还是弹性的(flexible),是否有测量不同类型零件的能力:例如爪型量具、夹紧量具、三坐标座标测量仪等。弹性的量具价格较贵,但从长远来看能节约成本。 第1类要素:与测量系统设计和开发有关的问题 接触式或非接触式:可靠性、特性的类型、抽样计划、成本、维护保养、校准、人员技能要求、兼容性、环境、速度、探头的类型、零件的变形、影像处理,以上内容可能由控制计划
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