数字集成电路试验讲义.doc

- PAGE 7 - - PAGE 1 - 数字电子技术实验 前 言 数字电子技术是一门实践性很强的技术课，必须十分重视加强实验教学。数字电子技术实验课的目的是进一步巩固和加强理论知识，培养基本操作技能，提高解决实际问题的能力。随着数字电子技术的高速发展，中规模集成电路较以前有更多应用，数字电路较脉冲电路有更多应用，基于这种情况，有必要对本课程实验作相应调整。????为了达到上述目的，根据数字集成电路教学大纲及我系实际情况编写了该实验指导书。全书共分十二个实验，每个实验包括有：实验目的、实验器材、实验内容和步骤、实验报告要求等项目。 本书可供非电类专业使用。在编写过程中，由于时间仓促，加之本人水平有限，凡有不妥之处，请读者批评指正。 ???????????????????????????????????????????????????????? ?? ???????????????????????????????????????????????????????????? ?编 者 实验一 集成逻辑门电路逻辑功能的测试 一、实验目的 1．熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。 2．掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。 二、实验器材 1．数字逻辑实验箱DSB-3 1台 2. 万用表 1只 3．元器件： 74LS00（T065） 74LS04 74LS55 74LS86 各一块 导线 若干 三、实验说明 1．数字逻辑实验箱提供5 V + 0.2 V的直流电源供用户使用。 2．连接导线时，为了便于区别，最好用不同颜色导线区分电源和地线，一般用红色导线接电源，用黑色导线接地。 3．实验箱操作板部分K0-K7提供8位逻辑电平开关，由8个钮子开关组成，开关往上拨时，对应的输出插孔输出高电平“1”，开关往下拨时，输出低电平“0”。 4．实验箱操作板部分L0-L7提供8位逻辑电平LED显示器，可用于测试门电路逻辑电平的高低，LED亮表示“1”，灭表示“0”。 四、实验内容和步骤 1．测试74LS04六非门的逻辑功能 将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。  2．测试74LS00四2输入端与非门逻辑功能 将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。  3．测试74LS55 二路四输入与或非门逻辑功能 将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据） 4．测试74LS86四异或门逻辑功能 将74LS86正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-4要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平。  五、实验报告要求 1．整理实验结果，填入相应表格中，并写出逻辑表达式。 2．小结实验心得体会。 3．回答思考题 若测试74LS55的全部数据，所列测试表应有多少种输入取值组合？ 实验二 集成逻辑门电路的参数测试 一、实验目的 1．掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。 2．进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。 二、实验器材 1．数字逻辑实验箱DSB-3 1台 2．万用表 2只 3．元器件：74LS20（T063） CC4012 各一块 2CK11 4只 电阻及导线 若干 三、实验说明 1．注意正确使用万用表，必须先调好档位再测量，否则易损坏万用表。 2．注意正确识别二极管极性。 四、实验内容及步骤 1．TTL与非门74LS20静态参数测试 （1） 导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH 。测试电路如图2-1。注意：74LS20为双四输入与非门，两个门的输入端应作相同处理。 　 （2）低电平输入电流I iL 和高电平输入电流Ii H。每一门和每一输入端都应测试一次。测试电路如图2-2。 （3）电压传输特性。调节电位器RW，使Vi从0V向5V变化，逐点测试Vi和VO值，将结果记录入表2-1中。根据实测数据作电压传输特性曲线，从曲线上得出VOH、VOL、VON、VOFF、VTH等值，并计算VNL、VNH（提示：在VO变化较快的区域应多测几点，有利于绘制特性曲线）。测试电路如图2-3。 　 2、CMOS双四输入与非门CC4012静态参数测试 将CC4012正确插入面包板，测电压传输特性。测试电路如图2-4，方法同上。将结果记录入表2-2中。根据实测数据作电压传输特性曲线，从曲线上得出VOH、VOL、VON、VOFF、VTH等值，并计算VNL、VNH 。若将三个多余输入端悬空测试一次，结果正确吗？ 五、 实验报告要求 1．列表整理出各参数的测试值，并与规范值相比