第4章 X射线的多晶衍射分析及其应用.ppt

4小角X射线散射技术的应用 1. 散射体尺度及薄膜界面特性 I(h) ln[h3I(h)] h h2 表 SAXS 测试的不同组分PI 薄膜微观参量 组分/% Rg/nm E/nm 4 8 16 24 7.624 7.807 7.257 7.363 0.54 0.61 1.31 1.48 2.时效分析 图 析出相半径R随时效时间的变化关系 3.非晶合金的结构弛豫 　 图4-55 不同退火温度、不同退火时间下的小角散射Porod 图 a 为380 ℃×70min ; b 为600 ℃×60min ; c 为360 ℃×100min 本章小结 3．测定条件 测定条件包括仪器本身导致衍射线宽化的各种因素： 1）X入射线的平行度 2）试样的吸收 3）板试样的聚焦情况 4）衍射仪的系统精度 由测定条件所引起的宽化称为仪器宽化或工具宽化。 仪器宽化的大小又称仪器宽度。 仪器宽度 通过测定没有任何物理宽化因素存在的标准试样获得 物理宽化却不能从实验中直接测得，因它总是与仪器宽化共同存在的。 当被测试样为粉末状时，测定其晶粒尺寸相对容易得多，因为退火处理使晶粒完全去应力，并可在待测粉末试样中添加标准粉末，比较两者的衍射线，运用作图法和经验公式获得晶粒细化宽度m，代入谢乐公式便可近似得出晶粒尺寸的大小，但该法未作K?双线分离，计算精度不高，可作一般粗略估计，具体过程如下： 1．样品去应力，以消除内应力宽化的影响； 2．在待测样中加入标准样（?-Al2O3、?-SiO2粒度较粗一般在10-4cm左右）均匀混合，标准样中没有晶粒大小引起宽化的问题，仅有仪器宽化和K?双线宽化，其中K?双线宽化忽略； 3．进行粉末样品的XRD分析，产生待测样的弥散峰和粗颗粒的敏锐峰； 4．选择合适的衍射峰进行分析，运用作图法分别测定两类峰的半高宽w和w0 5．由经验公式计算晶粒细化宽度 6．由m值代入谢乐公式算得晶粒尺寸的大小。 4．6非晶态物质及其晶化后的衍射 定义：是指质点短程有序而长程无序排列的物质。 分类：氧化物玻璃、金属玻璃、有机聚合物、非晶陶瓷、非晶半导体等。 性能：质点分布的特殊性，在力学、光学、电学、磁学、声学等方面性能优异 分析方法：X射线衍射法和电子衍射法 4．6．1非晶态物质结构的主要特征 晶态与非晶态在结构上的主要区别在于质点的长程排列是否有序。 宏观上讲，非晶态物质的结构均匀，各向同性， 但到原子尺寸时，结构也是不均匀的； 非晶态为亚稳定态，热力学不稳定，有自发向晶态转变的趋势即晶化。 晶化过程非常复杂，有时要经历若干个中间阶段。 4．6．2非晶态物质的结构表征及其结构常数 非晶态的物质结构表征－统计法－即径向分布函数。 非晶态结构的四个常数： 配位数n－径向分布函数的第一个峰的面积所包含的原子数 最近邻原子的平均距离r－径向分布函数的第一个峰峰位距中心的距离 短程原子有序畴rs－径向分布函数振荡趋于停止的点距中心的距离 原子的平均位移?－径向分布函数第一峰的半高宽的1/2.36。 非晶态物质的结构表征 1．径向分布函数(不同于原子中电子的径向分布函数) 多元非晶，其分布函数复杂，不做介绍 2．非晶态结构常数-由RDF表征 1）配位数n 分布曲线上第一个峰下的面积即为最近邻球形壳层中的原子数目，即配位数 2）最近邻原子的平均距离r r可由径向分布函数的峰位求得，RDF(r)曲线的每一个峰分别对应于一个壳层，即第一个峰对应于第一壳层，第二峰对应于第二壳层，依此类推。 由于RDF与r2相关，在制图和分析时均不方便，为此，常采用（1）双体分布函数或（2）简约分布函数来替代它。 双体分布函数或简约分布函数均是通过径向分布函数转化而来的。 （1）双体相关函数 （2）简约径向分布函数 简约径向分布函数 双体相关函数 4）原子的平均位移? 3）短程原子有序畴rs 短程原子有序畴是指短程有序的尺寸大小，用rs表示。当rrs时，原子排列完全无序。 rs值可通过径向分布函数曲线来获得： 在双体相关函数g(x)曲线中，当g(r)值的振荡?1时，原子排列完全无序，此时的r值即为短程原子有序畴rs； 在简约径向分部函数G(r)曲线中，则当G(x)值的振荡?0时，原子排列不再有序，此时r的值即为rs。 原子的平均位移?是指第一球形壳层中的各个原子偏离平均距离r的程度。反映在径向分布曲线上即为第一个峰的宽度，宽度愈大，表明原子偏离平均距离愈远，原子位置的不确定性也就愈大。因此，?反映了非晶态原子排列的无序性，?的大小即为RDF(r)第一峰半高宽的 4．6．3非晶态物质