材料表征技术分析与应用教学文案.ppt

材料表征技术(一)金灯仁参考书;绪论(一)现代分析测试技术:是;材料现代分析方法，是关于材料成;入射线衍射线XRD谱I:强度d;尺度：埃量级—核外电子结构；微;绪论(二)材料的组织结构与性能;X射线衍射与电子显微分析 XR;表4-1 X射线衍射分析方法的;元素成份分析（AAS，AES，;本课程内容与要求X射线衍射、电;?1.1 引言?1.2 X射;1.1 引言1895， （德;X射线衍射（XRD）的应用单晶;Structural anal;入射线衍射线XRD谱I:强度d;X射线物理基础、晶体结构XRD;T1-1电磁波谱1.2 X射线;电磁波：振动电磁场的传播，可用;X射线作为一种电磁波，在其传播;1.3 X射线的产生及X射线管;1.3 X射线的产生及X射线管;北京同步辐射装置(BSRF)简;1.3 X射线的产生及X射线管;1.3 X射线的产生及X射线管;T2-13 连续X射线谱及管电;短波极限 eV=h?ma;T2-15 特征X射线谱及管电;特征X射线产生：能量阈值激发-;特征X射线产生224;特征X射线产生原子能级结构;莫塞莱定律X射线荧光光谱分析和;T2-16 K?射线的双重线K;产生特征（标识）X射线的根本原;1.5 X射线与固体物质相互作;T2-18 X射线衰减X射线的;X射线衰减规律It;m = ? /? [cm2/g;含多种元素物质的质量吸收系数m;图6—4 质量吸收系数(／j;3. 俄歇（Auger）效应?;物质对X射线的吸收方式1.漫散;图6—5 按样品的化学成分选靶;1-6 X射线的安全防护0.7;F1-8空间点阵第二章 X射线;阵胞与基矢重复单元、相邻结点间;T1-5布拉菲点阵2.阵胞与点;F1-9布拉菲点阵阵胞;F1-10点阵基元晶体结构3.;F1-11晶面晶向4.晶向指数;F1-12六方晶面晶向i= -;F1-13干涉指数;1.倒易点阵的定义二.倒易点阵;FU1-44倒易点阵参数表达式;3. 倒易矢量及其性质r*HK;倒矢量性质推导（1-14）;倒易点阵的建立 --F1-1;晶面间距立方晶系:d=a/(h;晶面夹角;F1-16晶带零层倒易面晶带;晶带定律（或其应用）2.同一晶;3.已知两个互不平行的晶面，求;第三节 X射线衍射条件晶体中各;入射线和衍射线都是平面波。(实;图5—1 布拉格实验装置图5;波前渐变成垂直于传播方向两个波;从各原子散射出来的球面波，在特;2 d sin? = n?;X射线衍射与可见光的镜面反射晶;所关心的是位置而非级数2 d ;二 布喇格定律：布喇格公式： ;衍射方向衍射方向 ;三 倒易空间与衍射条件（厄瓦???;三 倒易空间与衍射条件（厄瓦尔;图5·5 衍射矢量三角形——;F5.6-5.7K0KKK0作;2.5 X射线衍射方法布拉格公;一、劳埃法;一、劳埃法分透射法和反射法特点;劳埃图同曲线上的劳埃斑属于同一;图6—15 劳埃法的厄瓦尔德图;EX-6-2;二、粉晶法粉末、多晶块状、板状;图6—1 德拜法的衍射花样图;返回图6—1 多晶体衍射花样;三、平面底片照相法在多晶体取向;三、平面底片照相法D值的精度很;三、平面底片照相法特点与应用：;粉末法的应用：物相分析点阵参数;第三章 X射线衍射线束的强度衍;图5—9 x射线衍射强度问题;图5—10 一个电子对x射线;图5—11 原子中各电子散射;图5—12 f曲线——f与s;图5—13 晶胞内任意两 ;波的强度正比于振幅的平方；波用;三 晶胞对X射线散射，结构因子;结构因子F单位晶胞中所有原子散;结构因子FF表征了晶胞内原子种;例题;立方晶系衍射花样示意图;图5—15 小晶体点阵示意图;图5—17 [G1[’函数曲;图5—20 圆柱样品对x射线的;图5—21 圆柱形样品吸收因子;几个至几十个衍射强度的加和hi;粉末衍射图样中多重性因子的数值;图5—22 原子热振动产生 ;或f/f0=e-M温度因子：有;罗仑子因子晶粒大小: 半峰宽B;罗仑子因子：(4sin2?co;谢乐公式?:晶粒细化引起的衍射;图5—19 单位弧长的衍射积分;粉末晶体衍射强度1.德拜谢乐法;衍射强度公式的使用条件1.试样;?(Sin?)2(Sin?)i;表6—1 立方晶系衍射晶面及;无标题;指标化:1)闪锌矿粉相;指标化:2)Cs2TeBr6;粉末晶体衍射强度的计算（面心立;无标题;相对强度的计算;第四章 多晶分析方法4.1 引;返回图6—1 多晶体衍射花样;图6—2 德拜相机构造示意图;图6—3 德拜相机底片安装方;图6—6 衍射弧对与θ角的关系;衍射花样的指标化?各衍射弧对布;识别K?和K?衍射线入射线的波;三 相机的分辨本领衍射花样中两;三 相机的分辨本领 相机半径R;图6—9 对称背射塞曼。波