电子产品震动测试方案设计.pdfVIP

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实用标准文档 更改记录 : 版本 日期 更改说明 编写者 由 DQE-QWI-P0001-056转成 CU-QE-QWI-P0001- 00 April 10, 2012 0019 分发: ( ) PRO-OP2 ( ) ME1-OP1 ( ) STO ( ) PRO-OP1 ( ) SMT ( ) QAD-OP2 ( ) ME2-OP1 ( ) SHP ( ) T/U ( ) PEG-OP2 ( ) PMC ( ) IQC-OP1 ( ) Repair ( ) QMD-OP1 ( ) TEG-OP1 ( ) PUR ( R ) PEG-OP1 ( ) DC ( R ) ENG ( 1 ) Other ( ) QAD-OP1 ( 1 ) QED-OP1 1. 目的 对我厂电子产品的震动测试制定各种标准。 2. 适用范围 我厂所有产品的振动测试,例如:主板,显卡, U盘, SD/CF卡, MP4,笔记本等。 文案大全 DOC No. : CU-QE-QWI-P0001-0019 我厂电子产品的振动测试 REV. : 00 PAGE : 2 OF 8 3. 参考文件 电磁式振动试验机使用说明书 SUPER振动控制系统简体中文使用手册 Standard ASTM D4728 2006 4. 振动设备 型号: EV106电磁式振动试验系统 系统构成 4.4.1 D 类功率放大器 SA5K 1 台 4.4.2 电磁式激振发生器 VG600-25 1 台 4.4.3 冷却风机(含金属风管 1 根和卡箍两件) BL600 1 台 4.4.4 振动控制器(正弦 sine 随机 random) VCS 1 台 4.4.5 垂直振动平台 VT660 1 台 4.4.6 保护系统 PAMP1-SPWM 1 台 4.4.7 系统加速规 Charge type 1 台 图一 5. 各种电子产品的震动测试标准 5.1 卡通箱 5.1.1 卡通箱里的产品可以是我们厂的所有产品,包括主板,显卡, USB,SD, CF,MP4和笔 记本等。这个振

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