存储器故障诊断算法地地地研究与实现.pdf

实用标准文案 作者 : 来源：电子与封装 / 刘炎华 1 景为平 2 1 东南大学集成电路学院 2 南通大学 上网日期 : 2007 年 01 月 18 日 1 引言 存储器 是各种电子设备中保存信息的主要部件， 随着存储器芯片的密度和复杂度的日益 提高， 设计一个良好的测试 算法 来测试存储器变得尤为重要， 存储器按功能， 主要可分为随 机存储器（ RAM）和只读存储器（ ROM）。 随机存储器（ RAM）根据存储阵列所用的电路类型可分为静态随机存储器（ SRAM）、动 态随机存储器（ DRAM），只读存储器（ ROM）可分为掩模编程 ROM和现场可编程 ROM。 2 存储器的 故障 模型 研究存储器的检测方法， 就必须先建立存储器单元的故障模型， 也就是要求把物理故障 模型化为逻辑故障， 通常可以用功能模型或灰匣子模型将存储器故障模型化， 典型 RAM功能 模型如图 1 所示，该模型是由 Vande Goor 提出的简化功能 DRAM模型 [1] 。 对于图 1 的功能模型，存储器的故障主要表现有 3 类： （1）地址解码器故障（ AF）[2] ，主要表现为 4 种形式（如图 2 所示）。 （2 ）读写逻辑模块故障。主要表现为在读写电路中，某些检测放大器的出或者写入驱 动器的逻辑部分，可能产生开路、短路或者 I/O 固定的故障，在读写电路的数据 线之间存在交叉耦合的干扰。 （3 ）存储单元阵列故障， 由于存储单元阵列是存储器内规模最为复杂的一个模块，因 此出现故障的概率最大，故障的类型也最为复杂，主要是由于存储器单元内的数据线开路、 短路以及串扰所引起的。 对于上述的功能模型去掉其中的某些逻辑模块，就可用于 ROM的测试。 精彩文档 实用标准文案 3 存储器的简化功能故障 [2 、 5、6] 基于以上各模块的故障表现形式， 又由于地址译码故障和读写逻辑故障可以等效的功能 映射为存储器单元阵列故障，故可把存储器故障简化为下列四种功能故障： （1）固定故障（ stuck-At Fault ，SAF） 单元或连线的逻辑值总为 0 或总为 1 的故障，单元 / 连线总是处于有故障的状态，并且 故障的逻辑值不变。 （2 ）转换故障（ Transition Fault.TF ） 转换故障是 SAF的一种特殊情况，当写数据时，某一存储单元失效使得 0→ 1 转变或 1 →0 转变不能发生，表现为固定故障的形式。 （3）耦合故障（ Coupling Fault ，CF） 存储单元中某些位的跳变导致其他位的逻辑发生非预期的变化， 它既可以发生在不同单 元之间，也可以发生在同一单元不同位之间。 （4 ）相邻矢量敏化故障（ Neighborhood Pattern Sensitive Faults ，NPSF） 一个单元因相邻单元的活动导致状态不正确， 一个单元的相邻单元可能有 5 个，也可能 有 9 个，如图 3 的（ a）、（ b）所示。 4 存储器故障诊断算法分析 针对存储器故障模型中的各种故障， 人们提出了各种诊断算法， 目前主要使用的算法有： Checkerboard 算法（棋盘法）、 Gallop 算法（奔跳法）、 M