多晶硅包装用聚乙烯材料表面、基体杂质含量测定方法.pdfVIP

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2020-07-25 发布于河南
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多晶硅包装用聚乙烯材料表面、基体杂质含量测定方法.pdf

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SJ/TXXXXX—XXXX 附录A （规范性附录）表面杂质含量测定方法 A.1 范围本附录规定了多晶硅包装用聚乙烯材料表面杂质含量的测试方法。本附录适用于多晶硅包装用聚乙烯材料表面硼（B）、钠（Na）、镁（Mg）、铝（Al）、磷（P）、钾（K）、钙（Ca）、铬（Cr）、锰（Mn）、铁（Fe）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、砷（As）、铅（Pb）等杂质含量的测定。各元素的测量范围见表A.1。表A.1表面杂质含量测量范围单位为纳克/平方厘米（ng/cm ）2 元素名称元素符号测量范围 -3 2 硼 B 1×10 ～4×10 -4 2 钠 Na 2×10 ～4×10 -4 2 镁 Mg 2×10 ～4×10 -4 2 铝 Al 2×10 ～4×10 -4 2 磷 P 2×10 ～4×10 -4 2 钾