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高速电路仿真测试联合分析方法 一博科技SI技术研究部 演讲人：吴均 目录 01 仿真不测试的准确性 02 高速串行总线的仿真不测试 03 DDRX的仿真不测试 04 电源及噪声的仿真不测试 05 仿真不测试总结 01 仿真不测试的准确性 高速电路仿真测试联合分析方法 仿真结果可信么？ 仿真结果 准确么？ 测试结果可信么？ 测试结果 可信么？ 一些测试案例 一些测试案例 一些仿真案例 仿真与测试结合 仿真分析 解决SI 问题 理论和工 测试分析 程实践 02 高速串行总线的仿真不测试 高速电路仿真测试联合分析方法 串行总线仿真测试的要点 准确的通道建模 • 通道建模 – 过孔 – 走线（板材） – 连接器 – 其他 无源通道Spec 准确的有源仿真分析 • 芯片模型 – Hspice – IBIS-AMI • 预加重、均衡的评估 • Redriver • SI/PI协同仿真 DUT通道S参数测量 • 通过probe直接点测DUT,通过夹具去嵌测试 常见去嵌方式 • 现常用去嵌方式如下图，2014 designCon出现 iTRL等新的去嵌方法。 一博测试板展示 • 一博已做出多款测试板用于TRL去嵌研究仿真测试对比及PCB走线研究等 • 18Ghz内，去嵌后插损在在0.01db以内，回损在-50db以下 仿真测试对比1 仿真测试对比2 仿真测试对比3 时域仿真测试对比 • E5071C可以查看一定速率信号经过DUT后在接收端眼图 • 采用实测DUT的S参数戒者仿真通道S参数同样可以得到眼图 03 DDRX的仿真不测试 高速电路仿真测试联合分析方法 DDRX常见问题汇总 • DDR成为硬件设计最容易出问题的领域，同时定位问题出现的原因以及 解决也都非常困难 • DDR领域的测试和仿真也同样有非常多的挑戓，这对硬件工程师来说， 就成为设计上的一个难点 • 信号质量相关 – 系统工作，但是有误码 – 正常频率工作有问题，降频稳定 – …… • 其他硬件软件问题 – DDRX无法运行 – 无法加载程序 – …… DDRX仿真测试要点 • 信号质量 • 各时序参数 • 电源噪声 DDR3/4的测试与仿真存在的问题 • DDR3-1600MT/S系统全速工作的时候有误码 ，降 频到 1333MT/S 的时候误码减少 ，继续降频到 1066MT/S ，误码消失 • 测试：颗粒附近缺少测试点 ，就算刮开绿油 ，也是 在封装之外迚行