几种CCD图像边缘的高精度检测方法分析.doc

第18卷 第2期 西 安 工 业 学 院 学 报 Vol.18 No.21998年6月 JOURNALOFXIpANINSTITUTEOFTECHNOLOGY June1998几种CCD图像边缘的高精度检测方法分析 高雁飞 (西安工业学院光电测试技术研究所,西安,710032,女,27岁,硕士生) =摘 要> 对近年来提出的四种提高CCD测量分辨率的方法:概率论方法、解调法、空间拟合函数法、插值法进行了系统的理论分析,从数学上推导了这些方法的机理,总结了这些方法的优点和不足,为选用合适的检测方法提供了依据. =关键词> CCD 分辨率 检测方法 =中图号> TN911X AnalysisofseveralmethodsofCCDimageedgedetectionimprovingaccurary GaoYanfei (OptoelectronicalTestInstitute,XipanInstituteofTechnology,Xipan,710032) Abstract ThetheoreticalanalysisoffourmethodspresentedinrecentyearstoenhanceCCDmeasureresolutionisreportedsystematically,themathematicalmechanismofthemethodsisdeduced,theadvantagesanddisadvantagesofthemethodsaresummarized,andthenthereasonsforselectingsuitablemeasuremethodsareprovided. KeyWords chargecoupleddevice(CCD) resolution detectionmethods 边缘是图像的最基本特征.在对CCD图像进行处理时,图像的边缘提取一直是一个经典难题,它对我们进行高层次的处理如,特征描述、识别和理解有着重大的影响1传统的边缘检测算法是考察图像的每个像素在某个邻域内灰度的变化,利用边缘邻近一阶或二阶导数的变化规律来检测边缘1如图1所示,边缘处的一阶方向导数取得最大值,二阶导数呈零交叉[1] 图1 边缘处导数变化 第2期 高雁飞:几种CCD图像边缘的高精度检测方法分析 93 但用CCD进行测量时,其分辨率由于受到制造和工作原理的限制只能达到一个光敏元大小1近年来,国内外出现了一些提高CCD定位精度的设想和算法,其中最具代表性的是概率论方法[2]、解调法[3]、插值法[4]和空间拟合函数法[5~7]1除概率论方法外,其它三种方法的思想都是基于把离散量转化为连续量,再用连续量确定更高精度的点的位置1本文对这四种方法通过从数学上推导其机理,总结它们的优点和不足,为选用合适的检测方法提供依据11 边缘检测问题 下面以线阵CCD尺寸测量为例说明边缘检测精度对测量结果的影响1测量原理如图2所示.当工件位于平行光区域时,工件投影到线阵CCD的光敏面上,由于部分光敏单元所接受的光线被工件遮掉,不能进行光积分形成电荷包,所以CCD输出的信号如图3所示1 根据以上原理,可得被测工件的尺寸为:l=pn,其中,p=d/B,d为CCD光敏元中心距,B为光学成像系统放大倍数,n为工件影像所覆盖的光敏元数 1 图2 线阵CCD尺寸测量示意图 图3 线阵CCD输出信号 由此可见,工件尺寸测量精度直接由n的计数精度决定, 当工件影像和线阵CCD的相对位置如图4所示时,如果不采取 其它技术措施,直接对n计数,则在被测物两个边缘都不能确 定的情况下,各边大约有一个光敏元的测量误差1 对面阵CCD来说,其所成图像的各行、各列都存在着与线图4 工件影像和线阵CCD相阵CCD类似的情况1可见,精确地定位CCD图像的边缘,突破 CCD像元中心距对CCD分辨率的限制将是提高CCD测量技术 精度的关键1对位置示意图 2 几种处理方法的分析及对比 2.1 概率法 用线阵CCD进行尺寸测量时,改变测量条件,即在测量过程中使工件和CCD在线阵方向上往复运动,累计多个周期的脉冲取得平均值,测量分辨率可以得到提高1为了讨论方便,我们做出如下三种假设: (1)光敏元中心距为d,光敏单元的宽度也为d1这一假设将在随后进行详细论述1( 94 西 安 工 业 学 院 学 报 第18卷射、光源等多种因素的影响,边缘存在包含多个光敏单元的过渡区,但对CCD成像来说,比较电平一旦确定,也就等效于确定了光强跃变的影像边缘1 (3)影像边缘的光敏单元上影区宽大于d/2时不能形成脉冲,在脉冲中缺位,形成缺位脉冲1这一假设虽对某个单元不一定能表现出来,但对于多周期动态测量,从统计的观点看却是成立的1 如将光敏单元宽度