数字电子技术实物实验.doc

电子技术实物实验 2 第二部分 数字电子技术实物操作实验 实验一 与非门逻辑功能及参数测试 一、 实验目的 (1 熟悉 TTL 与非门 (74LS20及 74LS00型 主要技术指标的实际测量方法。 (2 掌握各种 TTL 与非门的逻辑功能。 (3 掌握验证逻辑门电路功能的测试方法。 (4 掌握门电路闲置输入端的处理方法。 二、 实验仪器及器件 数字逻辑实验箱,万用表,双踪示波器, 74LS00、 74LS20与非门。 三、 实验内容 1. 认识元件及管脚 观察芯片的外形、引脚排列及各引脚的位置和功能。 芯片管脚号码排列 :芯片型号上的字头朝上,一般左边有个半圆形的缺口,缺口下面的 管脚为 1号管脚,沿着逆时针方向,依次为 2, 3, 4… 。如果是 14管脚的芯片,下面一排 管脚依次为 1~7号(从左到右 ,上面一排依次为 8~14号 (从右往左 ,如图 2-1所示。 实验提供两种集成与非门:TTL 集成与非门 74LS20(4输入端两与非门 、 74LS00(2输 入端四与非门 ,其引脚分配及内部电路图如图 2-1所示。 图 2-1 74LS00、 74LS20引脚及内部电路图 2. 主要指标的测量 (1 空载导通电流 1CC I 及空载导通功耗 on P 空载导通功耗 on P ,是指当与非门空载(输入端悬空并且输出为低电平时,产生的功 耗。 120on CC CC P V I mW =?< (2-1 实测 on P =( mW 测试电路如图 2-2所示。 3 图 2-2 ON P 测试电路 图 2-3 off P 测试电路 (2 空载截止电源电流 2CC I 及空载截止功耗 off P ,测试电路如图 2-3所示。 空载截止电源电流 2CC I 是指与非门至少有一个输入端接低电平,输出端开路时电源提 供的电流。空载截止功耗 off P 为空载截止时电源电流 2CC I 与电源电压之积,即 2off CC CC on P V I P =?< (2-2 实测 2CC I =( mA (3 输入短路电流 IS I 指“与非门”任一输入端经 mA 表接地, 其余输入端和输出端均开路时, 该 mA 表的显 示值即为输入短路电流 IS I ,此值应小于 0.4mA 。测试电路图如图 2-4所示。 图 2-4 IS I 测试电路 图 2-5 on V 和 off V 测试电路 实测 IS I =( mA (4 开门电平 on V 和关门电平 off V 的测量。 按图 2-5接线,将与非门任一输入端接最大输出为 5V 的直流信号源 I U ,其余各输入 端悬空。 将 I U 从 0逐渐增加,当输出端刚刚达到 0.35V 左右时的输入电压即为 on V 再次调节输入电压 I U , 使开始时的输出为低电平, 然后逐渐减小 I U , 当输出端刚刚达 到高电平 2.7V 时的输入电压即为 off V 。 实测 on V =( V 实测 off V =( V (5 输出高电平 OH V 和输出低电平 OL V 的测量。 将与非门任一输入端接地,其他输入端悬空,测量输出端的电压,即得 OH V 。 将图 2-5中 I U 调至输入高电平 3.6V ,此时测得的输出电压值即为 OL V 。 实测 OH V =( V 实测 OL V =( V 将 (1-(5中测得的参数,记录到表 2-1中。 表 2-1 芯片参数 4 (6 按图 2-5接线,将 I U 从 0向 5V 变化,逐点记录 I U 和输出端的电压值 O V 到表 2-2中。 表 2-2 U -V 关系 3. 逻辑功能测试 74LS00为四个 2输入与非门电路, 74LS20为两个 4输入与非门电路。实验时,可任选 其中一个门(2输入与非门或 4输入与非门接成实验电路,其输入端分别接数字逻辑实验 箱的逻辑电平开关(0/1开关,输出端接发光二级管(LED 0/1指示器, LED 亮为高 电平(逻辑1, LED 熄灭为低电平(逻辑 0。 测试 74LS00(2输入与非门逻辑功能 将 74LS00正确接入面包板, 注意识别 1脚位置, 按表 2-3的要求输入高、 低电平信号, 测出相应的输出逻辑电平,记录表 2-3中。 测试 74LS20(4输入与非门逻辑功能 将 74LS20正确接入面包板, 注意识别 1脚位置, 按表 2-4的要求输入高、 低电平信号, 测出相应的输出逻辑电平,记录表 2-4中。 4. 动态测试 (1 将 74LS20中一个与非门的任意一输入端输入单极性方波信号(方波信号可从数字逻辑 实验系统中获得,方波信号频率以稳定观察波形为准 i u ,在其它输入端均接高电平(0/1开关打在 1位置或一个输入端接低电平两种情况下,用示波器观察输