工频及暂态电流测试用罗哥夫线圈测试系统的结果不确定度评定.docxVIP

PAGE 6 PAGE 1 附录B 工频及暂态电流测试用罗哥夫线圈测试系统的结果不确定度评定 工频及暂态电流测试用罗哥夫线圈测试系统（记为X）由罗哥夫线圈和光纤隔离波形记录仪以及进行数据处理读数的软件组成。标定测量范围有效值为5kA~120 kA, 最大峰值 INmax=350 kA。 短时交流电流标准测量系统（记为N）由罗哥夫线圈和光纤隔离波形记录仪以及进行数据处理读数的软件组成。标定测量范围有效值为1kA~140 kA, 最大峰值 INmax=350 kA。 对X电流测量系统的测量不确定度的评价按照峰值和有效值分别进行。 确定刻度因数的校准试验是被校测量系统与标准测量系统（记为N）进行比对，在 = 2个电流水平下进行，保证比对电流不低于标定测量范围的5%，选择有效值3kA和12kA两个点。 线性度试验: 被校测量系统与标准测量系统（记为N）进行比对，在b个电流水平下进行，其中一个电流水平应等于X电流测量系统最高电流水平。所选取的电流水平按照最高电流水平的20%，40%、60%、80%、100%进行， a = 2 B.1 短时交流电流测量系统（认可测量系统）的有效值刻度因数校准及其校准不确定度的评估（比对法） 由一个被认可的校准实验室在用户实验室对一个X电流测量系统进行校准。校准是与标准测量系统（记为N）进行比对。标准测量系统N的刻度因数和扩展不确定度为：23℃下，FN=24.23kA/V，UN=0.5%(k=2),包括长期稳定性这一不确定度分量。 校准期间，环境温度为（27±2）℃，由于系统N的刻度因数是在23℃下校准的，根据资料FN的可能值在FN的±0.3%范围内服从矩形分布。对试验回路施加10次短时电流，每次施加间隔一段较长的时间以消除温升效应。 标准测量系统测量电流为IN，用于计算FX值及其合成标准不确定度的模型方程如下，理想情况下，两套测量系统显示的是同一个短时交流测试电流I（见图B.1），即： （B.1） 由此导出计算被校测量系统刻度因数的基本等式： (B.2) 测量系统X与标准系统N的比对测量产生10对测量值Fx，由此可计算Fx，相应的平均值以及实验标准偏差s（Fx）。表B.1、B.2给出了约7.5kA和30kA电流下测量值的示例。g=2个试验电流等级下的Fx、相应的平均值以及实验标准偏差（见表B.3）。线性度试验结果见表B.3。 表B.1 +7.5 kA电流下比对测量结果 测量次数 标准系统电流kA（kA） 被试系统VX（mV） Fx 1 7.189 143.1174 50.2315 2 7.322 146.3715 50.0234 3 7.822 156.4068 50.0106 4 7.492 150.2433 49.8658 5 7.465 149.3167 49.9944 6 7.303 145.8791 50.0620 7 7.537 150.4704 50.0896 8 7.672 153.6004 49.9478 45 7.505 150.2993 49.9337 10 7.634 151.9385 50.2440 FX的平均值 50.0403 相对实验标准偏差Sg(Fx) 0.0024 =0 (B.3) 表B.2 -7.5 kA电流下比对测量结果 测量次数 标准系统电流kA（kA） 被试系统VX（mV） Fx 1 - 7.788 -155.8242 49.9394 2 -7.512 -149.9970 50.0810 3 -7.485 -149.2966 50.2251 4 - 7.321 -146.6397 49.9251 5 -7.490 -149.5577 50.0810 6 -7.458 -149.2851 49.8681 7 -7.709 -153.6545 50.1710 8 -7.462 -148.7447 50.1665 45 -7.468 -149.7247 49.8782 10 -7.665 -153.1264 50.0567 FX的平均值 50.0372 相对实验标准偏差Sg(Fx) 0.0026 =0 (B.4) 表B.3 +30 kA电流下比对测量结果 测量次数 标准系统电流kA（kA） 被试系统VX（mV） Fx 1 28.592 569.3950 50.2147 2 30.732 612.9495 50.1379 3 29.939 598.8590 49.9934 4 30.329 606.9697 49.9679 5 30.230 604.9218 49.9734 6 31.078 622.7657 49.90