显卡检验规范.pdf

精品 CM 电子有限公司 检 验 规 范 文件名称：显卡 QA 检验规范 文件编号： WI-QA-002 版 本 号： A.0 更改提示： 序 号 更 改 内 容 更改单号 更改日期 制 作 审 核 批 准 日 期 日 期 日 期 会 签 可编辑 精品 发放范围： （在此处列明发放部门、人员及份数） ◆ 质量部 （1 ） ◆ QA （1 ） ◆ 制造中心 （1 ） ◆ 技术部 （1）◆ （1 ） 文 件 编 号 WI-QA-002 CM 电子 有 限 公 司 版 本 A.0 文 件 类 型 C 类 文 件 显 卡 QA 检 验 规 范 第 1 页 共 7 页 可编辑 精品 1. 目的 制定 QA 出货产品的品质判定标准 。 2. 范围 适用于本公司各类型的显卡及外购显卡， 若所定标准与客户相抵触时， 则依双方约定为准 。 3. 引用标准 GB2929-87 《逐批检查计数抽样程序及抽样表》 （适用于连续批的检查） CG2.295.202JS 400D 技术条件 CG2.295. 204JS 5200 64 位技术条件 CG2.295.203JS 440 技术条件 CG2.255.209JS 4000 技术条件 WI-IQC-014 PCB 类物料检验规范 4. 缺点定义 4.1 严重缺点 (Critical Defect) 将导致人身伤害或造成产品无法使用的缺点 。 4.2 主要缺点 (Major Defect) 将可能造成产品功能故障，降低其使用功能的缺点 。 4.3 次要缺点 (Minor Defect) 指不影响产品的使用、功能的外观缺点，并对产品的使用者不会造成不良影响 。 5. 抽样计划 5.1 抽样计划采用 GB/T2828-87 正常检查一次抽样方案； 5.1.1 出货时再抽样一次； 5.2 检验方法为抽样检验的显卡 ,在出现以下情况时 ,也可采用全检： 5.2.1 技术结构变更后首次交付； 5.2.2 供应商变更后首次交付； 5.2.3 屡次发生质量问题 . 6. 检验项目 6.1 依据品质判定标准所规定的项目实施 . 7.