TR-518FR 不可测试总结.docVIP

ICT測試功能局限 在實際的電路板上,大量各式主、被動元件通過串、并聯方式連接起來。下述情形,ICT無法測試或無法准確測試。 2.1无針不可测试的零件 一般來說,每個零件的兩端(或各引腳)所在的銅箔面均有探針觸及才可測試。 目前, 本廠SMT零件、IC腳(包括懸空引腳)少數因沒有相應的Test Point而未取探針,致使這顆零件以及與之相關的開短路不可測。 2.2小電容并聯大電容(C1//C2),小電容不可測 兩電容并聯後,容值為C1+C2,如果C2的容值是C1的10倍以上,則C1不可測。 假設: C1=1uF ;C2=10uF。 實際中電容標准誤差為±20%，1uF及以下電容為：+80%、-20%，因考慮測試針與PCB的接觸阻抗，故在編制程式時,通常設±Tolerance為30 。當治具和測試程式都較穩時可設為20 。 其標准值為：1uF+10uF=11uF ，則: 下限為11uF*(1-30%)=7.7uF; 下限為11uF*(1+30%)=14.3uF 。 當C1缺件時, C1+C2=11uF, 仍在7.7uF-14.3uF的範圍內,故C1不可測。 實際電子線路中,常見大 、小電容并聯,或者是小電容經電感或小電阻與大電容并聯 ，所以小電容不可測的情形最常遇到。 2.3大電阻并聯小電阻R1//R2,大電阻不可測 如果R1的阻值是R2的20倍以上,則R1不可測。 兩電阻并聯后,其阻值為：R1*R2/(R1+R2),比小電阻略小， 這時大電阻缺件不可測。當然，如果R2錯成R1,只要下限小于50,仍然可測。其原理同2.2。 同理, 與跳線并聯的電阻(J//R),R不可測。 2.4小電阻過小, 無法准確測試 慮及探針接觸電阻,排線公母連接器之間電阻(反復插拔會增大)等影響,(約幾百毫歐至幾歐),故上限要放寬，其阻值無法准確測試。 如0ohm電阻測試程式為：實際值：0，標准值：2，上限：10%，下限：-1(即為無窮小)。 即ICT測試出的值小于2.20ohm即算作“PASS”。 由上可以看出：0ohm電阻錯成2ohm以下時，不可測。 2.5相并聯的的跳線不可測, 不同粗細或不同材質的跳線不可測 不同粗細或不同材質的跳線其阻值都約為0ohm 。 2.6大電阻//大電容, 大電阻無法准確測試 這是所說的大, 實際調試時才能判定是否可測。 2.7小電容//小電阻,小電容無法准確測試 釆用AC法,小電容呈現高阻抗, 與大電阻并聯小電阻同理, 小電容無法測。 釆用交流相位分離法,當電容,電阻均較小時,其相拉差漸趨于0，故小電容也無法准確測量。 2.8與小電感并聯的較大電阻,不可測 釆用定電流法，電感通直流，使電阻兩端短接而不可測。 釆用交流相位分離法, 小電感并聯大電阻,其相拉差漸趨于π/2，故不可測。 而與大電感并聯的小電阻，則可蓍以相位分離法測量出來。 2.9電容并聯電感,, 兩者都不可測. 這里所說的電感,包括變壓器,繼電器等。 小電容并聯小電感, 同理于小電容//小電阻,小電容無法准確測試。當電容較大時,其本身可以測。電容較小時,電感感值可以測。當然,如把電感當成一小電阻(須加延時測試),可以測出內部斷開或缺件的情形。 2.10二極體//小電阻, 二極體插反或漏件均不可測 對于硅材質的二極體,其正向偏置電壓約為0.7V。 當R約為35-45ohm以下時,二極體插反或漏件均不可測。 因ICT系非破壞性測試，所提供電流較小,一般最大約為20mA. 當R約為35ohm以下時,其正反向所量到的電壓小于V=I*R=0.7V，若二極體插反甚至漏件,所量到的結果不變。 2.11與跳線或電感并聯的二極體(L//D,J//D)不可測 通常二極體的正向壓降為0.7V,反向壓降0.7V。 與第10條同理, 如果D//J或D//L.則,正反向壓降約為0. 這時,二極體插反,漏件, ICT測到的結果仍為0,和正確時相同,故不可測。 2.12兩個二極體同向并聯，漏件或空焊不可測 但插反應在可測之列 而兩個二極體異向并聯,其漏件或插反均應在可測之列 (以上兩點須釆用正反向雙步測試，方可有效測出。) 此處所說的二極體泛指PN結.包括Diode，FET, IC等內的PN結。 2.13電容極性 ICT利用電解電容正反向漏電流之差異,判定其是否插反。但在整個網路中,常遇到電感(包括變壓器),IC,小電阻等的分流作用,正反向漏電流并無明顯差異,則極性無法測試。 故電容極性測試比較有限。但DIP的大電解電容可用三點測試法進行測試，其可測率可達100%。 2.14電容容值過小時,常不可測 ICT可以偵測1pF的電容, 其方法是扣除雜散電容而得一較穩定的值。但是,如果測量值受旁路影響而使其極不穩定,變化幅度超過被測電容容值,則電容缺件不可測。當然，如果其錯件為一較大