SJT 1145-1993 电容器用有机薄膜电性能试验方法通则.pdfVIP

中华 人 民 共 和 国 电子 行 业 标 准 电容器用有机薄膜电性能 SJ/T1145--93 试验方法通则 代替S11145-77 Generalrulesoftestmethodsforelectricalperformances oforganicfilm foruseincapacitors 主题内容与适用范围 1.1 主题内容 本标准规定了电容器用有机薄膜电性能试验方法中的试样要求、试验条件、厚度测定和试 验记录的一般规则. 1.2 适用范围 本标准适用于电容器用有机薄膜电性能的侧.试. 2 试样 要求 2 . 1 取样时沿薄膜横向取所需数量，外表至少去掉三层。 2 . 2 取样环境必须保持清洁，取样、剪裁试样或试验时，不允许用手直接接触试样被测试面. 2 . 3 试样必须平整、均匀、无伤痕、皱折、孔洞等缺陷，表面不允许有灰尘或其他污物。 2 . 4 所取试样应在3.1条环境条件下预处理24h;被测试膜卷贮存环境与3.1条要求一致 时 ，可不进行预处理。 3 试验 条件 3.1 除非另有规定，试验应在下列环境条件下进行: 温度:23士2C; 相对湿度:忍。士5%; 净化度 簇1(0000级 注 100000级，即环境中拉度为。.知m以上的灰尘，不多于 3500个每立方米 3.2 高Hi试验条件(热度)由产品标准规定。当达到试验温度时夹入试样，在规定温度下，保持 10min后方可进行试验。试验温度误差不超过士20C, 厚度测试要求 厚度测量仪的 卜测量而应是光滑的平面，上测量面是曲率半径为 15-50M。的球面.两 中华人民共和国电子工业部 1993-12-17批准 1954-0601实施 s,1/T1145-93 测量面都应抛光，上测量杆的直径不得小于5mm，接触压力为25-75Pa, 4.2厚度测量仪的最小分度值，对厚度小于或等于5tm的为。.2Pm，大于51cm而小于lOpm 的为0.5fm，大于lOWm的为 11m, 检验记录 试验记录应包括下列各项内容: a. 试样名称、型号、规格、批号和生产单位、出厂日期， b. 试验项目名称及试验方法标准编号; c. 试验时的环境条件及预处理情况， d. 试验仪器; e. 试样的尺寸和数量; f. 试验结果及计算值; 9. 试验 日期和试验员。 附加说明: 本标准由电子工业部标准化研究所归口。 本标准由铜陵市薄膜电容器总厂负责起草。 本标准主要起草人 :章晓红、叶立新、周荣。 本标准于 1977年6月首次发布，XXXX年X月第一次修订。