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电子显微镜在材料学科中的运用 《近代材料研究方法》结业论文） 学院：材料科学与工程学院 班级： 110207 姓名：运浩 学号：电子显微镜在材料学科中的运用 （，） 绪论 随着科学技术的发展进步， 我们不在局限于观察宏观的物质 或者结构，而电子显微镜的发明足以让我们观察到更细致的微观世 界。在研究材料领域中， 电子显微镜起着举足轻重的作用， 而电子显 微镜分为透射电子显微镜和扫描电子显微镜。 通过透射电镜可以方便 的观察到， 物质的微观结构， 晶体的生长规律， 检测各种材料的老化 及疲劳损坏程度， 分析各种材料中各种成分的分布规律及其各种元素 间的比例关系。 扫描电镜主要运用材料科学的表面结构研究， 共混物 的分相，各种复合材料的应力缺陷，物质晶体结构及其应力变化等。 所以说在材料性能研究与开发中电子显微镜扮演着的角色永远那么 重要。 前言 电子显微镜作为现代科技认识微观世界的重要纽带， 先简单介 绍一下其原理特点。 首先， 透射电子显微镜由电子光学系统； 高压系 统；数据采集系统；电子控制系统；真空系统等五大部分组成。 LaB6 灯丝在高压的作用下， 一束高能电子束。经过透镜、物镜、消像散 等系统的调整， 形成一束近似平行光的电子束作用于试样。 电子束与 试样将产生各种各样的作用。 主要形成透过电子、 弹性散射电子、 非 弹性散射电子。其次，扫描电子显微镜由高压系统、电子光学系统、 电源系统、真空系统、电子控制系统、图像采集系统六大部分组成。 扫描电镜成像与透射电镜原理不同， 不需要成像透镜， 其图像是按一 定时间、空间顺序逐点形成并在镜体外显像管上显示。 正文 一、 电子显微镜在纳米材料方面的运用 扫描电子显微镜相对于光学显微镜、透射电子显微镜有一些极 有价值的特点。 首先， 它能在很大的放大倍数范围工作， 从几倍到几 十万倍， 相当于从光学放大镜到透射电镜的放大范围， 并且具有很高 的分辨率，可达1?3nm其次，它具有很大的焦深，300倍于光学显 微镜，因而对于复杂而粗糙的样品表面， 仍然可得到清晰聚焦的图像， 图像立体感强，易于分析；再次，样品制备较简单，对于材料样品仅 需简单的清洁、 镀膜即可观察， 并且对样品的尺寸要求很低， 操作十 分简单。扫描电子显微镜（SEM）在纳米材料的形貌观察和尺寸检测方 面依靠其高分辨率、良好的景深、简易的操作等优势 , 被大量应用。 同时，受限于SEM成像原理及机械工艺的限制，成像质量的好坏受多 种因素的影响， 包括荷电效应、 像散等无法避免但能尽量消除的因素 和SEM各观测条件对成像影响的因素。但了解其原理后我们能尽最大 程度去提高使用的准确性。 在纳米SnO2材料的电子显微镜表征的研究报告中，可以观察到 在高分子链中分散包裹着大量纳米 SnO2微晶,并且少见地观察到高 分子材料成圆环链状形态，利用电子显微镜，可以对纳米SnO2材料微 观结构进行观察.所制备的二氧化锡材料，晶颗大小约5 nm~10 nm形 状多为球形，并观察到晶颗存在缺陷.加入适量聚乙一醇(PEG)作为分 散剂,可减少晶颗团聚现象，并通过高分辨透射电子显微镜，直接观察 到纳米材料包裹在高分子分散剂中，并观察到特殊的圆环状结构. 高分子分散剂(PEG)TEM图.图中标尺为50nm 在电子显微镜对纳米SQ2/NR复合材料结构的分析报告中，采 用TEM1分析研究最佳工艺条件下制备的纳米 SiO2粒子的表面结构为 球型，其粒径为25 nm~40nm之间，达到纳米级范围。采用 SEMI分析本 实验制备的纳米SiO2/NR复合材料的拉伸断面产生较多的剪切变形， 裂纹面模糊，纳米SiO2粒子与NR大分子化学键合点多，结合牢固,增 强了界面粘接，同时粒子在NR基体中分散均匀，复合材料的综合力学 性能较好。 这些都是纳米级材料的研究，通过对纳米级材料的微观观察分 析得出我们需要的结论，对我们研究材料的性能用途都起到了重要作 用，所谓不了解其机理就不会明白各种材料的性能。 二、电子显微镜在新材料研究中的运用 在新材料的研究领域中电子显微镜同样有着很重要的作用。 比如 在新型陶瓷材料显微分析中有显微结构分析、 纳米尺寸研究、铁电畴 的观测等。 其中，显微结构分析中， 当陶瓷材料处于不同的外部条件 和化学环境时 , 扫描电子显微镜在其微观结构分析研究方面同样显示 出极大的优势。主要表现为 : (1) 力学加载下的微观动态 (裂纹扩展 ) 研究 [5]; (2) 加热条件下的晶体合成、 气化、聚合反应等研究 [8]; (3) 晶体生长机理、生长台阶、缺陷与位错的研究 ; (4) 成分的非均匀性、 壳芯结构、包裹结构的研究 ; (5) 晶粒相成分在化学环境下差异性的 研究等；在纳米尺寸研究中，高分辨率的扫描电子显微镜在纳米级