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GIS 局部放电超声波检测技术 一、 GIS 局部放电超声波检测原理 SF6 气体绝缘组合电气设备（ GIS）因其具有故障低、免维护等特点而在电力 系统中被广泛使用。但是 GIS 具有全封闭的特殊性，使得除了进行微水检测等 少数试验项目外， 现行的高压电气设备例行试验的大多数项目无法采用 GIS，长 期以来它几乎处于无维护状态。 GIS 设备内部出现的缺陷，不容易进行排查。随 着 GIS 电压等级的提高和体积的缩小， GIS 内部电场越来越高。 GIS 内部主要绝 缘介质有 SF6 气体和环氧绝缘构件等。当绝缘存在缺陷时，内部场强分布便会 发生畸变， 导致局部放电而使内部绝缘受到破坏， 同时往往伴随着超声信号的产 生。因此目前国内外广泛采用局部放电超声波检测技术等非电量测量法来检测 GIS 故障。通过收集这些声信号，并根据实际经验加以分析，可以对 GIS 的运行 状况进行评估。局部放电超声波检测原理如下图 在 GIS 的各类故障中，绝缘故障占有较大比例。实际运行情况表明，故障发 生时常常并没有进行系统操作， 也不存在过电压。 导致这些绝缘故障的主要是一 些晓得绝缘缺陷，如内部故障缺陷、自由颗粒、毛刺、接触不良、固体绝缘表面 脏污等。随着这些微小缺陷的逐渐扩大， 会使放电所产生的电荷在固体绝缘表面 逐渐积累， 导致电场分布的严重畸变。 要及时发现这些潜在的绝缘缺陷， 必须依 靠局部放电超声波检测。 GIS 可分为三相共体式和分相式两种。尽管 GIS 在结构设计上不尽相同，但 内部结构基本一致，主要有 SF6 气体、绝缘支座、拉杆、盘式绝缘子、导电体、 气室外壳等。 GIS 绝缘故障的发生，可能是在产品产生、现场安装以及运行操作 等过程中。如下图，导致 GIS 产生局部放电的原因具体分为以下几种： （1）气室内导体上和金属外壳上的异常凸起。 GIS 在装配过程中留下的焊疤 或较大的毛刺等， 往往在老炼试验中无法清除， 便在运行的气室内留下异常凸起 点。此类缺陷危害较大， 会造成气室内局部场强不均匀。 当局部场强达到某一水 平时， 凸起点将出现尖端闪络。 对于雷电或操作的快速暂态冲击， 凸起点闪络将 会导致绝缘击穿。一般超过 1~2mm 的凸起点被认为是有害的缺陷。 （2）气室内自由金属颗粒在电场作用下获得电荷， 并受到静电力的作用， 如 果这种力超过其重力， 颗粒就会从外壳上升， 并在气室内运动而造成间隙性电晕 放电。颗粒的形状及其位置直接影响到气室的耐压水平。 颗粒越长， 越接近高压 导体，其危险程度就越大。 如果吸附于绝缘子上， 可能会导致绝缘子表面闪络受 损，可能造成更大的危害。 （3）电动和机械力造成气室内零配件松动。 如果屏蔽罩松脱， 将直接导致电 位浮悬，电气绝缘距离缩短， 交流耐压水平大幅度下降。 如该悬浮屏蔽接近电极， 将导致屏蔽与电极见大规模放电。 （4）固体绝缘内部的空隙和缺陷。 在电场作用下， 固体绝缘内部的空隙和缺 陷会产生局部放电或固体表面树枝状放电， 长期累积效应使固体绝缘老话直接击 穿，此类缺陷直接影响到 GIS 的使用寿命。 当 GIS 中的缺陷在电压作用下发生局部放电时，局放产生的能量是周围 SF6 气体的温度骤然升高，从而形成局部过热，所产生的扰动以压力波的形式传播， 其类型包括纵波、 横波和表面波。 不