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实验一 集成电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、掌握 Multisim 软件的使用方法。 2、掌握集成逻辑门的逻辑功能。 3、掌握集成与非门的测试方法。 二、实验原理 TTL 集成电路的输入端和输出端均为三极管结构，所以称作三极管、三极管逻辑电路 Transistor -Transistor Logic ）简称 TTL 电路。 54 系列的 TTL 电路和 74 系列的 TTL 电路具 有完全相同的电路结构和电气性能参数。所不同的是 54 系列比 74 系列的工作温度范围更 宽，电源允许的范围也更大。 74 系列的工作环境温度规定为 0— 700C，电源电压工作范围为 5V±5%V ，而 54 系列工作环境温度规定为 -55— ±1250C，电源电压工作范围为 5V±10%V 。 54H 与 74H,54S 与 74S 以及 54LS 与 74LS 系列的区别也仅在于工作环境温度与电源电 压工作范围不同，就像 54 系列和 74 系列的区别那样。在不同系列的 TTL 器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能、外形尺寸、引脚排列就完全相同。 TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广，特别 对我们进行实验论证，选用 TTL 电路比较合适。因此，本实训教材大多采用 74LS(或 74)系 TTL 集成电路，它的电源电压工作范围为 5V±5%V ，逻辑高电平为“ 1”时≥ 2.4V ，低电平为“ 0”时≤ 0.4V 。 它们的逻辑表达式分别为： 图 1.1 分别是本次实验所用基本逻辑门电路的逻辑符号图。 1 图1.1 TTL 基本逻辑门电路 与门的逻辑功能为“有 0 则 0，全 1 则 1”；或门的逻辑功能为“有 1则 1，全 0 则 0”； 非门的逻辑功能为输出与输入相反；与非门的逻辑功能为“有 0 则 1，全 1 则0”；或非门的 逻辑功能为“有 1 则0，全 0 则 1”；异或门的逻辑功能为“不同则 1，相同则 0”。 三、实验设备 1、硬件：计算机 2、软件： Multisim 四、实验内容及实验步骤 1、基本集成门逻辑电路测试 （ 1）测试与门逻辑功能 74LS08 是四个 2 输入端与门集成电路（见附录 1），请按下图搭建电路，再检测与门的逻辑功能，结果填入下表中。 VCC X1 5V J1 VCC 1 2.5 V U1A Key = A 3 J2 74LS08D 2 0 与 门 74LS08 Key = B A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 （ 2）测试或门逻辑功能 74LS32 是四个 2 输入端或门集成电路（见附录 1），请按下图搭建电路，再检测或门的 逻辑功能，结果填入下表中。 VCC J3 X2 5V 4 VCC 2.5 V U2A Key = Space 6 J4 5 74LS32D 0 或 门 74LS32 Key = Space A B Y 0 0 1 0 1 （ 3）测试非门逻辑功能 74HC04 是 6 个单输入非门集成电路（见附录 1），请按下图搭建电路，再检测非门的逻 辑功能，结果填入下表中。 2 X3 VCC J5 2.5 V 5V U3A VCC 7 8 0 74HC04D_6V Key = Space 非 门 74HC04 Y 0 1 （ 4）测试与非门逻辑功能 74LS00 是四个 2 输入端与非门集成电路（见附录 1），请按下图搭建电路，再检测与非 门的逻辑功能，结果填入下表中。 VCC J6 X4 5V 15 2.5 V VCC U6A 17 Key = Space 16 74LS00D J11 与 非 门 74LS00 0 Key = Space A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 （ 5）测试或非门逻辑功能 74LS02 是四个 2 输入端或非门集成电路（见附录 1），请按下图搭建电路，再检测或非 门的逻辑功能，结果填入下表中。 VCC J12 X7 5V VCC 18 2.5 V U7A 20 Key = Space 19 74LS02D J13 或 非 门 74LS02 0 Key = Space A B Y 0 0 1 0 1 （ 6）测试异或门逻辑功能 74LS86 是四个 2 输入端异或门集成电路，请按下图搭建电路，再检测异或门的逻辑功 能，结果填入下表中。 3 VCC J7 X5 5V 11 VCC 2.5 V U5A Key = Space 13 J8 12 74LS86D 异 或 门 74LS86 0 Key = Space A B Y 0 0 1 0 1 （ 7）测试同或门逻辑功能 74LS266 是四个 2 输入端同或门集成电路， 请按下图搭建电路， 再检测同或门的逻辑功能，结果