材料现代分析方法(复习题及答案).pdfVIP

1、埃利斑 由于光的波动性，光通过小孔发生衍射，明暗相间的条纹衍射的图样，条纹间距随小 1、埃利斑 由于光的波动性，光通过小孔发生衍射，明暗相间的条纹衍射的图样，条纹间距随小 孔尺寸的变大，衍射的图样的中心有最大的亮斑，称为埃利斑。 孔尺寸的变大，衍射的图样的中心有最大的亮斑，称为埃利斑。 2、 差热分析 是在程序的控制条件下，测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。 2、 差热分析 是在程序的控制条件下，测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。 3、 差示扫描量热法 （DSC） 是在程序控制条件下，直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸 3、 差示扫描量热法 （DSC） 是在程序控制条件下，直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸 收的或放出的热量。 收的或放出的热量。 4、 倒易点阵 是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵，此对应关系可称为倒易变换。 4、 倒易点阵 是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵，此对应关系可称为倒易变换。 5、 干涉指数 在 （hkl）晶面组 （其晶面间距记为 dhkl）同一空间方位，设若有晶面间距为 dhkl/n 5、 干涉指数 在 （hkl）晶面组 （其晶面间距记为 dhkl）同一空间方位，设若有晶面间距为 dhkl/n （n 为任意整数）的晶面组（nh，nk，nl）即（H,K,L）记为干涉指数。 （n 为任意整数）的晶面组（nh，nk，nl）即（H,K,L）记为干涉指数。 6、 干涉面 简化布拉格方程所引入的反射面（不需加工且要参与计算的面）。 6、 干涉面 简化布拉格方程所引入的反射面（不需加工且要参与计算的面）。 7、景深 当像平面固定时 （像距不变）能在像清晰地范围内，允许物体平面沿透镜轴移动的最大距 7、景深 当像平面固定时 （像距不变）能在像清晰地范围内，允许物体平面沿透镜轴移动的最大距 离。 离。 8、 焦长 固定样品的条件下，像平面沿透镜主轴移动时能保持物象清晰的距离范围。 8、 焦长 固定样品的条件下，像平面沿透镜主轴移动时能保持物象清晰的距离范围。 9、 晶带 晶体中，与某一晶向 【uvw】平行的所有 （HKL）晶面属于同一晶带，称为晶带 9、 晶带 晶体中，与某一晶向 【uvw】平行的所有 （HKL）晶面属于同一晶带，称为晶带 10、 10、 射线 若 K 层产生空位，其外层电子向 K 层跃迁产生的 X 射线统称为 K 系特征辐射，其中有 α 射线 若 K 层产生空位，其外层电子向 K 层跃迁产生的 X 射线统称为 K 系特征辐射，其中有 α L 层电子跃迁产生的 K 系特征辐射称为 Ka. L 层电子跃迁产生的 K 系特征辐射称为 Ka. 11、 数值孔径 子午光线能进入或离开纤芯 （光学系统或挂光学器件）的最大圆锥的半顶角之余 11、 数值孔径 子午光线能进入或离开纤芯 （光学系统或挂光学器件）的最大圆锥的半顶角之余 弦，乘以圆锥顶所在介质的折射率。 弦，乘以圆锥顶所在介质的折射率。 12、 透镜分辨率 (( )) 12、 透镜分辨率用物理学方法 如光学仪器 能分清两个密切相邻物体的程度 用物理学方法 如光学仪器 能分清两个密切相邻物体的程度 13 衍射衬度 由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成为衍射衬度。 13 衍射衬度 由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成为衍射衬度。 14 14 射线 若 K 层产生空位，其外层电子向 K 层跃迁产生的 X 射线统称为 K 系特征辐射，其中有 L α 射线 若 K 层产生空位，其外层电子向 K 层跃迁产生的 X 射线统称为 K 系特征辐射，其中有 L α 层电子跃迁产生的 K 系特征辐射称为 Ka. 层电子跃迁产生的 K 系特征辐射称为 Ka. 15 质厚衬度 由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成的非晶体样品投射电子显微图像 15 质厚衬度 由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成的非晶体样品投射电子显微图像 衬度，即质量衬度，简称质厚衬度。 衬度，即质量衬度，简称质厚衬度。 16 质谱 是离子数量（强度）对质荷比的分布，以质谱图或质谱表的形式的表达。 16 质谱 是离子数量（强度）对质荷比的分布，以质谱图或质谱表的形式的表达。 一、 判断题 一、 判断题 1 1）、埃利斑半径与照明光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比。（×） ）、埃利斑半径与照明光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比。（×） 14 x 14）、产生特征 x 射线的前提是